资讯中心

泰克逻辑分析仪荣膺“佳测试奖”

2011/5/26 11:08:21    1374

来源：泰克

摘要：

　　在2011年5月4日“嵌入式系统大会”（EmbeddedSystemsConference）举行期间进行的颁奖仪式上，TLA7SA00系列逻辑分析仪被授予“总线分析仪”类别的佳产品奖。“佳测试”奖分16个类别。参加2011年“佳测试奖”评选的产品或服务必须是在2009年11月1日至2010年10月31日之间推出的产品或服务。
　　
　　“我们再次对各厂商提名的许多出色产品进行了评审”，UBMElectronics旗下杂志《Test&MeasurementWorld》的编辑部主任RickNelson表示，“我们向泰克公司取得这一成就表示祝贺。”
　　
　　TLA7SA00系列是泰克去年四月推出的综合性PCIExpress1.0/2.0/3.0测试解决方案，集协议分析与物理分析于一体。该解决方案包括TLA7SA16和TLA7SA08逻辑协议分析仪模块、总线支持软件及探头，为PCIe了解系统行为提供了的时间相关视图，从协议分析开始一直到物理层分析，帮助查找棘手问题的根本原因。
　　
　　“总线速度及复杂性一代胜过一代，我们意识到需要有一种将协议、逻辑及物理分析结合起来的新解决方案，以便更有效地确定棘手软硬件问题的原因”，泰克公司逻辑分析产品线总经理DaveFarrell表示，“TLA7SA00系列荣获佳测试奖是对我们基于‘客户’原则的肯定，这一原则始终贯穿在我们重新定义总线分析测试仪的过程中。”

全部评论