NI发布《2011自动化测试技术展望》
- 2011/4/12 10:51:42 4744
- 来源：自动化信息网
摘要：
NI近日发布了《2011自动化测试技术展望》，就影响测试测量的技术与方法发表了研究结果。该报告所阐述的发展趋势覆盖了消费电子、汽车、半导体、航空航天、医疗设备和通信等众多产业，帮助工程师和企业管理人员利用新策略和佳实践案例，优化测试组织架构。
《2011自动化测试技术展望》以学术和工业研究、网上论坛、问卷调查、商业咨询、客户反馈等多种形式广泛进行调查，提出了下一代测试测量行业的发展趋势，以应对该行业所存在的商业与技术挑战。报告从四个方面进行了阐述：
组织机构优化：集成验证与生产测试需要注意策略、流程、人力与技术上的改变。
软件系统：一个高度集成的软件框架提供了一个灵活的系统架构，用于不断升级增加测量功能，并缩短开发时间和测试时间。
异质计算结构：未来的测试系统将会需要不同的处理节点，来满足更加严格的分析与处理要求。
IPtothePin：在设计与测试阶段分享FPGAIP可显著缩短设计验证时间，并改善生产测试时间与测试覆盖性能。
《2011自动化测试技术展望》以学术和工业研究、网上论坛、问卷调查、商业咨询、客户反馈等多种形式广泛进行调查，提出了下一代测试测量行业的发展趋势，以应对该行业所存在的商业与技术挑战。报告从四个方面进行了阐述：
组织机构优化：集成验证与生产测试需要注意策略、流程、人力与技术上的改变。
软件系统：一个高度集成的软件框架提供了一个灵活的系统架构，用于不断升级增加测量功能，并缩短开发时间和测试时间。
异质计算结构：未来的测试系统将会需要不同的处理节点，来满足更加严格的分析与处理要求。
IPtothePin：在设计与测试阶段分享FPGAIP可显著缩短设计验证时间，并改善生产测试时间与测试覆盖性能。
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