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仪表网 行业标准】近日,由昆山昆博智能感知产业技术研究院有限公司 、中用科技有限公司 、中机生产力促进中心有限公司 、苏州大学 、成都航天凯特机电科技有限公司 、武汉大学 、北京智芯微电子科技有限公司 、无锡华润上华科技有限公司 、昆山双桥
传感器测控技术有限公司等单位起草,TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口的国家标准计划《微机电系统(MEMS)技术 传感器用MEMS压电薄膜的环境试验方法》征求意见稿已编制完成,现公开征求意见。
随着MEMS技术的不断发展和成熟,压电薄膜如Pb(Zi,Ti)O3或AIN在MEMS应用领域的研究越来越受到欢迎。MEMS压电薄膜传感器主要应用领域有应变传感器、自供电无线传感器、声学和超声波装置、扫描探针显微镜的精确定位、燃油喷射系统、主动阻尼控制和自适应控制系统等,与传统的体积型、静电型或电磁薄膜相比具有更低的功耗、更高的灵敏度和更快的响应速度。但是压电薄膜材料的性能对器件的性能影响很大,为了实现可行的MEMS压电薄膜,有必要了解其在温度和湿度的环境应力作用下压电性能的变化,并进行适当的质量评估。
开展MEMS压电薄膜相关标准制定,对MEMS压电薄膜环境试验方法达成统一,能够发现产品问题所在,提高产品质量,降低生产成本。推动建立相关产业压电薄膜质量评估标准体系,可以用作产品交付的依据,促进压电薄膜在传感器应用领域的进一步发展。同时能够推动我国在MEMS技术领域的标准化工作,推动产业发展。
本标准按照 GB/T 1.1—2020 给出的规则起草。
本标准采用翻译法等同采用 IEC 62047-37:2020《Semiconductor devices -Microelectromechanical devices - Part 37: Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application》。
本标准对 IEC 62047-37:2020 做了以下编辑性修改:
——为与现有标准协调,将标准名称改为《微机电系统(MEMS)技术 传感器用MEMS压电薄膜的环境试验方法》。
——删除了国际标准的前言;
——修正了公式编号、公式符号,使各公式能够正确对应文字描述内容;
——修正了图片编号、图片中的符号与文字,使各图片能够正确对应文字描述内容;
——修正了表格内容错误,使文本表达与附录A的内容相对应;
——更改了语言表达方式,使之符合中文表达习惯,易于理解。
本文件规定了在环境应力(温度和湿度)、机械应力和应变下,评估MEMS压电薄膜材料耐久性的试验方法,以及用于质量评估的试验条件。本文件具体规定了在温度、湿度条件和外加电压下测量被测器件耐久性的试验方法和试验条件。
本文件适用于评估MEMS压电薄膜材料的耐久性和质量,也适用于评估在硅衬底上形成的压电薄膜的正压电性能,例如用作声学传感器或悬臂式传感器的压电薄膜。
本文件不包括可靠性评估,如基于威布尔分布预测压电薄膜寿命的方法。
初始测量:
环境试验中使用的测量方法应符合IEC 62047-30中描述的方法。测量的环境条件应符合:
——环境温度:25℃±3℃;
——相对湿度:45%~75%;
——大气压:86kPa~106kPa。
被测器件的试验设置和环境条件:
对于需要被测器件连续运行工作的试验,将被测器件放置在一个能调整到规定的温度和湿度条件的试验台上。对试验条件进行监测,以确保试验箱环境达到规定条件时不会出现异常。
对于不需要被测器件连续运行工作的试验,可以将被测器件放置在一个试验台上,该试验台可以放置在试验箱中,也可以不放置在试验箱中。
在以上试验中,存放和移动被测器件和试验台时,操作人员应确保:
——水不会滴到被测器件上;
——被测器件不会直接浸入水中。
试验次数和被测器件数量:
试验次数和被测器件数量的规格要求应考虑每次试验中的失效机理、失效分布和其他预期因素。如需要进行中间测量,可按照下列时间表进行:
——24h(+8h,-0h);
——48h(+8h,-0h);
——96h(+8h,-0h);
——168h(+8h,-0h);
——480h(+72h,-0h)。
试验持续时间应扣除取出被测器件和进行中间测量所需要的时间。
后处理:
在试验完成后,首先停止施加的机械应力应变或振动,然后将被测器件从试验箱中取出并返回到标准条件下。但这不适用于在测试温度下停止施加的机械应力应变或振动后,被测器件明显从退化状态恢复的情况。
最终测量:
温湿度环境试验中使用的测量方法应符合IEC 62047-30的规定。通过比较最终测量值和初始测量值来评估被测器件的退化程度。试验的环境条件应符合:
——环境温度:25℃±3℃;
——相对湿度:45%~75%;
——大气压:86kPa~106kPa。
一般情况下,在确保被测器件表面干燥后,应在环境试验后的48h内进行最终测量。在进行最终测量前的中间测量时,应将被测器件在取出进行测量后的96h内放回试验箱。宜在对被测器件停止施加电压后的96h内完成最终测量。
更多详情请见附件。
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