资讯中心

2023年中国计量测试学会几何量专业委员会技术学术交流会暨换届工作会召开

2023/8/25 8:52:35    15994
来源:中国计量科学研究院
摘要:分别从米定义复现方法、纳米探针、集成电路检测、光学显微干涉、光学陀螺测角、大尺寸绝对测距、线纹测量及光学扫描测量等方向进行了系列报告。
  【仪表网 会议报道】为隆重纪念米定义40周年,8月16至18日,中国计量测试学会几何量专业委员会技术学术交流会暨换届工作会在云南大理顺利召开。(买仪表,卖仪表就上仪表网! 查产品、看订单…一站式全搞定!)
 
  中国科学院院士王立鼎,中国计量测试学会相关领导,中国计量科学研究院(以下简称“中国计量院”)相关部门负责人以及来自全国计量机构、高等院校、科研院所和企业的160多名代表参加会议。
 
  几何量专业委员会秘书长、中国计量院研究员李建双主持会议开幕式。王立鼎院士在开幕式致辞中结合自身工作经历,总结了几何量技术在先进制造领域的发展与作用,勉励科技工作者瞄准国家战略需求,潜心钻研,为促进几何量科技发展作出贡献。
 
  第七届几何量专业委员会主任委员、中国计量院研究员高思田在致辞中回顾了米定义40年来几何量领域技术学术取得的长足发展,展望了几何量计量新技术的发展趋势,希望参会代表们踊跃交流、深入探讨、有所收获。
 
  在学术交流环节,中国计量院研究员吴金杰以“从米制到米智——米定义演进与智能化”为题作纪念米定义40周年主题报告。他回溯了“米制”前的长度单位演变、米制的建立与演进、我国在米定义方面的贡献及我国米基准、几何量计量基标准的发展历程。报告提出,应加强“米”的扁平化、数字化、智能化和网络化研究,使其与产业深度融合,推动几何量计量从“米制”向“米智”发展。
 
  来自中国计量院、西安交通大学、中国科学院微电子研究所、天津大学、上海理工大学、浙江理工大学、中国航空工业集团北京长城计量测试技术研究所等单位的代表,分别从米定义复现方法、纳米探针、集成电路检测、光学显微干涉、光学陀螺测角、大尺寸绝对测距、线纹测量及光学扫描测量等方向进行了系列报告。
 
  会议现场学术氛围浓厚,报告内容丰富。与会代表提问互动热烈,就涉及的几何量计量测试技术展开了广泛热烈的讨论。
 
  会议选举产生了第八届几何量专业委员会主任委员、副主任委员、秘书长等。此次大会由中国计量测试学会几何量专业委员会主办,云南省计量测试技术研究院承办。(文/图:李建双、缪东晶)

全部评论

上一篇:《低压分支线智能监测终端》等4项团体标准送审稿审查会召开

下一篇:第二十一届全国核电子学与核探测技术学术年会召开

相关新闻
热门视频
相关产品
写评论...