《电子电气产品中限用物质筛选应用通则 XRF》征求意见
- 2023/3/30 10:03:53 22421
- 来源：仪表网
电子电气产品的广泛使用使人们更加关注其对环境的影响,世界上许多国家或地区制定专门的法规限制某些有害物质在电子电气产品中使用。
电子电气产品的生产企业为了确保限用物质符合法规的要求，需要对产品的材料进行检测。由于电子电气产品组成复杂，使用材料众多，批次更换频繁，因此湿法化学分析无论是在时间和费用上无法满足如此巨大的检测需求，这就迫使人们去寻找一种快速、低成本、易于操作甚至是无损的定量或半定量的检测方法。X射线荧光光谱法(以下简称XRF)，是一种无损的谱学分析方法，能够对样品中元素进行定性和定量分析，具有简单快速、低成本等优点，甚至可以满足在线检测的需求。仪器使用X射线照射样品，样品中元素会产生荧光X射线，通过分析这些特征射线，能够获得样品的元素信息。
随着XRF光谱仪技术的发展以及GB/T 39560.301-2020《电子电气产品中某些物质的测定第3-1部分:X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴》对XRF筛选测试技术要求的提高，同时考虑到XRF光谱仪性能测试方法的可操作性，本次修订主要集中在XRF光谱仪性能指标及验证方法方面，其它人员要求，测试过程要求，文档要求及质量控制等内容没有进行修订，主要修订的内容如下:
1)调整了标准结构，将XRF光谱仪的要求合并成第5章，提出了应用于电子电气产品有害物质筛选测试XRF光谱仪性能总体要求及验证方法总体要求，完善了精密度、能量位置和能量稳定性等指标的验证方法;
2)增加了准确度要求及验证方法;
3)修订了检出限、能量分辨力两项指标的验证测速方法直接引用GB/T31364-2015中相关方法;
4)修订了X射线光斑位置指标要求，增加了小于3mm的光斑的位置要求;
5)删除了规范性附录A，并将精密度和检出限两项性能指标要求及验证方法相关内容放入标准正文;
6)将原资料性附录B变为资料性附录A，同时删除标准物质EC680和EC681K的信息，增加了标准物质EC680M和 EC681M的信息。
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