半导体领域国际标准提案立项论证评审召开
- 2022/10/24 11:31:36 18466
- 来源：中国电子技术标准化研究院
【仪表网 仪表会议】2022年10月14日，中国电子技术标准化研究院组织召开了IEC TC47/SC47E、SC47F两项国际标准提案的立项论证评审会。国家市场监督管理总局标准创新管理司IEC联络处徐全平副处长出席会议并致辞，来自MEMS器件和光电器件等半导体领域的十余位专家代表参加了会议，会议由中国电子技术标准化研究院张玉芹主任主持。
徐全平副处长在致辞中表示，半导体器件是支撑信息技术产业发展的基石，两项新提案的提出体现了我国半导体器件蓬勃发展的态势和主动贡献中国智慧的大国担当，后续应继续加强培养复合型标准化人才，针对产业痛点提出具有先导性、独创性的国际提案，持续推动我国半导体产业高质量发展。
本次会议成立了由中国科学院空天信息创新研究院、中国计量科学研究院、京津冀国家技术创新中心、北京航天控制仪器研究所、浙江大学、上海芯物科技有限公司、北京智慧共享技术服务有限公司等单位的专家组成的评审组，来自北京大学和之江实验室的提案负责人就MEMS麦克风和CMOS成像气体传感器2项国际标准提案汇报了立项背景、目的意义以及标准主要技术内容，评审专家对提案论证报告、标准草案等内容进行了质询和讨论，一致同意提案立项申报，并给出了修改完善建议。
近年来，我国在半导体器件领域国际标准化工作节节攀升，电子标准院和中国电科十三所等国内相关技术对口单位将继续认真履行职责、主动担当，持续提升我国在国际标准化领域的影响力和话语权。
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