典型应用范围如下: 单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。 双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。 双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。 zui多24种镀层(使用WinFTM? V.6软件)。 分析多达4种(或24种-使用V.6软件)元素。分析电镀溶液中的金属离子浓度。
点击详情如下:
| FISCHERSCOPE? X-RAY XDL?-B | 测量方向 | 从上往下 | X-射线管型号
W: 钨管 MW: 微聚焦钨管 | W | 可调节的高压 30kV; 40kV; 50kV |
| 开槽的测量箱体 |
| 基本Ni滤波器 |
| 接收器(Co) 可选择的 WM-版本 |
| 数准器数目 | 1 | z-轴 | 无,或电机驱动或可编程的 | 测量台类型 | 固定台面 或 手动XY工作台或 可编程的XY工作台 | 测试点的放大倍率 | 20 - 180 x | DCM方法 (距离控制测量) |
| WinFTM? 版本 | V.3 标准 V.6 可选择 | 操作系统: Windows XP prof. |
|
X射线荧光测厚仪 产品编号: | 50101001 | CAS NO.: |
| 产品名称: | X射线荧光测厚仪 | 产品类别: | X荧光测厚仪 | 产品品牌: | Fischer | 产品型号: | XDL | 规格/包装: | 台 | 产品价格: | 询价 | 产品简述: | 它可以使仪器在沒有标准片校准並保证一定測量精度的情況下測量複雜的镀层系統,同時可以对包含多达24种元素的材料进行分析…… | 产品详情: |
典型应用范围如下: 单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。 双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。 双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。 zui多24种镀层(使用WinFTM? V.6软件)。 分析多达4种(或24种-使用V.6软件)元素。分析电镀溶液中的金属离子浓度。
点击详情如下:
| FISCHERSCOPE? X-RAY XDL?-B | 测量方向 | 从上往下 | X-射线管型号
W: 钨管 MW: 微聚焦钨管 | W | 可调节的高压 30kV; 40kV; 50kV |
| 开槽的测量箱体 |
| 基本Ni滤波器 |
| 接收器(Co) 可选择的 WM-版本 |
| 数准器数目 | 1 | z-轴 | 无,或电机驱动或可编程的 | 测量台类型 | 固定台面 或 手动XY工作台或 可编程的XY工作台 | 测试点的放大倍率 | 20 - 180 x | DCM方法 (距离控制测量) |
| WinFTM? 版本 | V.3 标准 V.6 可选择 | 操作系统: Windows XP prof. |
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