电子芯片IC三箱式冷热冲击试验箱用途

　　冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具.

　　电子芯片IC三箱式冷热冲击试验箱技术参数

　　规格型号：TDS-40　　

       内箱尺寸：40*35*35cm

　　内箱材质 :SUS 304# 8K镜面不锈钢板.

　　外箱材质：特殊防锈处理之钢板喷塑或SUS 304#纹路处理之不锈钢.

　　高温槽温度范围： 60 ~200℃.

　　低温槽温度范围：A:(-55 ~ -10℃). B:(-65 ~ -10℃). D:(-80 ~ -10℃).

　　实验箱冲击温度：高温 60~150℃

　　低温 A:(-10 ~ -40℃) B:( -10 ~ -55℃) D:( -10 ~ -65℃)

　　冲击恢复时间：高温(150℃)冲击30分钟.低温：(-40℃or-55℃or-65℃)冲击30分钟.

　　冲击恢复时间：5分钟以内.

　　風門開啓時間： 3秒已内

　　升温时间：60~200℃小于35分

　　降温时间：A: 20~-55℃小于75分 B: 20~-65℃小于80分 D: 20~-75℃小于90分.

　特点

　　◆产品外形美观、结构合理、工艺*、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。

       ◆具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，*有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高.

　　◆*科学的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角;完备的安全保护装置，避免了任何可能发生安全隐患，保证设备的*可靠性

　　◆设备分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采*之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物*静止，应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的.

　　◆采用采用的计测装置, 控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单, 学习容易, 稳定可靠,中，英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。

◆可设定循环次数及除霜次数自动(手动) 除霜.

　　　　　　◆具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转，大程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行;

　　◆出风口于回风口感知器检测控制，风门机构切换时间为10秒内完成，冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。

　　◆箱体左侧具一直径50mm之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。

　　◆可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。

        ◆运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。

　　◆冷冻系统采用复迭高效低温回路系统设计，冷冻机组采用欧美*压缩机，并采用对臭氧系数为零的绿色环保(HFC)制冷剂R507，R23.

　　◆*安全保护功能：电源过载保护、漏电保护、控制回路过载、短路保护、压缩机保护、接地保护、超温保护、报警声讯提示等。

　　◆箱体内外部材质采用不锈钢板(SUS#304),外部材质有种不同外箱材质可供选择:

　　◆纹路处理不锈钢表面，如经常顺着纹路擦拭，可使机器长时间保持崭新的外观(*此种选择)

　　◆特殊防锈处理钢板静电喷涂表面，质地高档(依客户要求)

　　◆每个产品都根据客户的要求订做，保证了设备的高效节能，并在现场调试和验收，保证用户方的使用性能。

　　◆可扩充性“可扩充液态氮(LN2)快速低温冲击控制装置。