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GDAT-C 高频绝缘材料介电介质常数损耗测量仪

具体成交价以合同协议为准

2018-05-09北京市
型号
GDAT-C
北京北广精仪仪器设备有限公司

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产品简介
高频绝缘材料介电介质常数损耗测量仪介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。
详细信息

               高频绝缘材料介电介质常数损耗测量仪

它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求

 

一、高频绝缘材料介电介质常数损耗测量仪主要技术指标: 2.1 测试信号频率范围:1kHz70MHz,数字合成,可数字设置或连续调节,五     位   有效数显。
2.2 Q值测量范围:11000四位数显,分辨率0.1Q。分100316999三档,量程可自动切换。
2.3 Q值固有误差:±5%±3% 满刻度值。
2.4 有效电感测量范围:0.1μH1000mH
2.5 电感测量误差:≤5%±0.02μH
2.6
调谐电容特性:

2.6.1可调电容范围:40pF500 pF
2.6.2 精确度:±1% 0.5pF
2.6.3微调电容器:-3pF0+3pF,分辨率:0.2pF
2.6.4
残余电感值:约30nH

2.7 Q预置功能:Q预置范围:11000均可。被测件达到预置值后有“GO”显示和蜂鸣声提示。不合格件则显示“NO GO”
2.8 外形尺寸及重量:415×180×170mm,6.5kg

BH916 介质损耗测试装置(数显)

 

二、  介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
介电常数介质损耗试验仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
介电常数介质损耗试验仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

 

三、工作特性
1.1 平板电容器:
1.1.1 极片尺寸:
 c类-38:Φ38mm.
 c类-50:Φ50mm. 
1.1.2 极片间距可调范围和分辨率:
  ≥8mm, ±0.002mm
1.2 夹具插头间距:
  25mm±1mm
1.3夹具损耗角正切值
  ≤2.5×10-4

线圈号 测试频率         Q   分布电容p     电感值
  9    100KHz          98     9.4          25mH
  8    400KHz         138    11.4        4.87mH
  7    400KHz         202    16          0.99mH
  6      1MHz         196    13          252μH
  5      2MHz         198     8.7       49.8μH
  4    4.5MHz         231      7          10μH
  3     12MHz         193     6.9       2.49μH
  2     12MHz         229     6.4      0.508μH
  1     25MHz 50MHz  233211   0.9      0.125μH

 

四、特点:
   本公司创新的自动Q值读取技术,使测Q分辨率至0.1Q
   DPLL合成发生1kHz70MHz,测试信号。
   低至20nH残余电感,保证高频时直读Q值的误差较小。
   特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。
   Q值量程自动/手动量程控制。
   数字化Q值预置,能提高批量测试的可靠性和速度。

 

测试装置是由测微平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化和厚度的刻度读数变化通过公式计算得到。同样,由平板电容器的刻度读数变化,通过公式计算得到介电常数。

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