梅特勒XPE205分析天平

梅特勒XPE205 分析天平提供出色的分析称量性能，并提供至高称量安全性、*称量效率且易于合规。 梅特勒 XPE205 分析天平重复性误差小，因此提供zui低的zui小称量值。质量管理特征，例如创新的状态指示灯和获得的 StaticDetect 技术，可免除您在称量方面的担忧并获得值得信赖的结果。凭借各种附件和多个连接选项，梅特勒 XPE205分析天平可满足您日益增长的需求。 您可在今后的许多年中实现丰富的称量应用。 瑞士设计与制造，出色的质量值得您信赖。

梅特勒XPE205分析天平提供以下智能称量功能：
• 包括状态指示灯在内的新型彩色显示屏，具有警告功能
• 获得的 StaticDetect 功能
• 新的静电消除技术
• TestManager™ 用于轻松的日常测试
• 性能更出色的网格秤盘
• LabX® 软件用于当前在屏幕上提供定制的工作流程指南
梅特勒XPE205分析天平技术规格
处理能力zui高为 520g，可读性为 0.01mg/0.1mg
*性能
USP41 的zui小重量可精确到 14 mg
无需触摸操作
称量，去皮，自动开关门 – 减少污染
无缝过程
RFID 选项；LabX：自动数据处理，SOP 指南
*的清洁流程
快速拆除称量室，可在洗碗机中安全清洗
天平管理应用程序
StatusLight™：天平水平，测试已完成，可随时称量
静电解决方案
自动静电检测，紧凑式离子发生器XP504DR 分析天平

梅特勒 XPE205 分析天平 技术参数