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TT270 TT270涂层测厚仪（漆膜测厚仪）北京时代之峰科技有限公司直销
具体成交价以合同协议为准
2018-05-15北京市
- 型号
- TT270
产品简介
TT270涂层测厚仪（漆膜测厚仪）北京时代之峰科技有限公司直销
磁性涂层测厚仪：测量*磁铁（侧头）和基体金属之间由于存在覆盖层而引起磁引力的变化；或者是测量通过覆盖层与基体金属磁路磁阻的变化。可以无损伤地测量磁性金属基本体上非磁性覆盖层的厚度（如 钢、铁、合金和硬磁性钢 上的锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆 等）
详细信息
磁性涂层测厚仪：测量*磁铁（侧头）和基体金属之间由于存在覆盖层而引起磁引力的变化；或者是测量通过覆盖层与基体金属磁路磁阻的变化。可以无损伤地测量磁性金属基本体上非磁性覆盖层的厚度（如 钢、铁、合金和硬磁性钢 上的锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆 等）
TT270涂层测厚仪（漆膜测厚仪）北京时代之峰科技有限公司直销
TT270涂层测厚仪（漆膜测厚仪）北京时代之峰科技有限公司直销
● 采用磁性法和涡流法两种测量方法，可支持多达6种测头
● 中英文菜单显示，操做更加直观便捷
● 可存储5组共计640个测量数据
● 可设置限界，方便批量测量
● 采用磁性和涡流两种测厚方法，配F型测头可无损伤地测量磁性金属基本体上非磁性覆盖层的厚度（如钢、铁、合金和硬磁性钢上
的锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等），配N型测头可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等金属
上的油漆、橡胶、塑料、氧化膜等）
● 两种测量方式：连续（CONTINUE）和单次（SINGLE）测量方式
● 两种工作方式：直接方式（DIRECT）、成组方式（APPL）
● 设有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO.）、标准偏差（S.DEV）
● 可采用两种方法对仪器进行校准
● 中英文菜单显示，操作更加直观便捷
● 液晶显示器具有背光照明功能
● 可存贮640个数据
● 具有删除功能，对测量的单个或所有数据进行删除
● 具有打印功能
● 配有一体化打印机，使用方便
● 电源欠压指示
● 操作过程有蜂鸣声（单次测量方式）
● 错误提示功能
● 手动和自动两种关机功能
测头型号 | 可选，见附表1 |
工作原理 | 磁感应和电涡流 |
测量范围 | 见附表1 |
低限分辩率 | 见附表1 |
探头连接方式 | 分体式导线连接（可更换） |
示值误差 | 见附表1 |
测试条件 | 见附表1 |
使用环境温度 | 0~40℃ |
使用环境湿度 | 20%RH~90%RH |
使用环境 | 无磁场环境 |
电 源 | 1/2镍氢电池5×1.2V 600mAh |
外形尺寸 | 230×86×47（mm） |
重 量 | 约500g |
测头技术参数：
测头型号 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N1 | CN02 | |
工作原理 | 磁感应 | 电涡流 | |||||
测量范围（um） | 0-400 | 0-1250 | 0-10000 | 0-1250(铜上镀铬0-40um) | 10-200 | ||
低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 | ||
示值误差 | 一点校准(um) | ±[3%H+1] | ±[3%H+10] | ±[3%H+1.5] | ±[3%H+1] | ||
两点校准(um) | ±[(1～3)%H+0.7] | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+10] | ±[(1～3)%H+1.5] | — | ||
测量条件 | zui小曲率半径(mm) | 凸 1 | 凸1.5 | 平直 | 10 | 3 | 平直 |
基体zui小面积的直径(mm) | ф3 | ф7 | ф7 | ф40 | ф5 | ф7 | |
zui小临界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 无限制 | |
质量稳定、测量可靠
自动贴牌机技术、保证冲击装置的稳定性！
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北京时代之峰科技有限公司成立于2002年8月14日。北京时代之峰科技有限公司在仪器行业中全国的销售网络它是依托时代集团多年来形成的检测仪器领域的技术优势而建立的专业化高科技企业。
仪器主要有：里氏硬度计、洛氏硬度计、布氏硬度计、维氏硬度计、超声波硬度计、邵氏硬度计、显微硬度计、粗糙度仪、超声波测厚仪、涂层测厚仪、超声波探伤仪、磁粉探伤仪、X射线探伤仪红、外测温仪系列、测振仪系、列材料试验机系列、弹簧拉压试验机、压力试验机、摩擦磨损试验机、其他试验机、冲击试验机系列、摆锤冲击试验机、冷热冲击试验机、悬臂梁冲击试验机、*试验机系列、液压*试验机、电液式*试验机、电子*试验机、电液伺服*试验机、工业内窥镜系列、电火花检测仪系列、地下管线探测仪系列、管道容器/地表气体泄漏探测仪系列、金相显微镜系列、金相试样制备设备。
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