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VertiSense Appnano 热扫描探针系统

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2018-05-15上海市
型号
VertiSense
上海纳腾仪器有限公司

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产品简介
Thermal probe system热扫描探针系统,联用AFM显微镜,既能实现AFM探针常规轻敲和接触扫描,获得高清晰度的图像,同时能够实现样品热学性质的探测。尤其适用于高分子材料组分热学性质评估。
详细信息

Thermal probe system热扫描探针系统,联用AFM显微镜既能实现AFM探针常规轻敲和接触扫描,获得高清晰度的图像,同时能够实现样品热学性质的探测。尤其适用于高分子材料组分热学性质评估。

 

模块性能:

可以同时实现样品表面形貌扫描和材料相关热学性能测试

1) 温度;

2) 温度梯度变化曲线;

3) 定性热导率;

4) 相变温度;

5) 定性热容量;

 

模块优势:

1)高性价比,能实现热学扫描及热学性质测试的功能,价格仅为其为同类产品的一半;

2)精细测量,能达到20nm区域测温;

3)耐高温,针尖在700℃高温下也不易变形;

 

模块扫描机制:

应用领域:

Thermal Probe system适用于太阳能电池、有机发光材料研究、发光器件以及其它对高分子热学性质探测、高分子组分特点研究等各个领域。

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