HY（IC） HY（IC）IC卡动态弯扭试验机设备

HY（IC）IC卡动态弯扭试验机设备

本仪器针对IC卡在国标GB/T 16649.1等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; HY（IC）IC卡动态弯扭试验机设备采用先进的同步带传动，非接触式光电计数，15工位同时测量大大提高的仪器的精度和使用寿命。

HY（IC）IC卡动态弯扭试验机设备图片

HY（IC）IC卡动态弯扭试验机设备主要技术参数

外形尺寸：长×宽×高（670×380×220mm）

仪器重量：70kg

电压：AC220V±5%

功率：35W

测试速度：弯曲30r/min

测试周期：1~9999次  

弯曲度；长边20 mm，短边10 mm

扭曲度：15°±1°双向

HY（IC）IC卡动态弯扭试验机设备产品用途：用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。

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