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CMI900/950/960 X射线荧光镀层测厚仪
具体成交价以合同协议为准
2018-05-16
- 型号
- CMI900/950/960
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产品简介
高精度X射线测厚仪
详细信息
X-荧光镀层测厚仪CMI900 / 950金属镀层厚度的精确测量
CMI 900 / 950 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层
厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析.基于Windows2000
中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了对CMI900/950主机的全面自动化控制，
厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析.基于Windows2000
中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了对CMI900/950主机的全面自动化控制，
技术参数：
CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都于*的测厚行业
A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层
（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定zui多5层、15 种元素。
B ：精确度于世界，精确到0。025mil (相对与标准片)
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；
如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、zui大值、zui小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，zui小可达0.025 x 0.051毫米
样品台选择：
CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
样品台选择：
CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二：自动样品台
1 程控样品台：XYZ轴自动控制。
2 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。
2 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。
CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。如右下图所示。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：
1 全程控样品台：XYZ 三轴程序控制样品台，可接纳的样品zui大高度为150mm，XY 轴程控移动范围为 300mm x 300mm。 此样品台可实现测定点自动编程控制。
2 Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品zui大高度为270mm。
1 全程控样品台：XYZ 三轴程序控制样品台，可接纳的样品zui大高度为150mm，XY 轴程控移动范围为 300mm x 300mm。 此样品台可实现测定点自动编程控制。
2 Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品zui大高度为270mm。
3 全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品zui大高度为356mm。
可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。
可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。
CMI900/950主要技术规格如下：
No. | 主要规格 | 规格描述 | |
1 | X射线激发系统 | 垂直上照式X射线光学系统 | |
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 | |||
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 | |||
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选 X射线管功率可编程控制 | |||
装备有安全防射线光闸 | |||
2 | 滤光片程控交换系统 | 根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统 | |
二次X射线滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 | |||
位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口 | |||
3 | 准直器程控交换系统 | zui多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制 | |
多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 | |||
4 | 测量斑点尺寸 | 在12.7mm聚焦距离时，zui小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) | |
在12.7mm聚焦距离时，zui大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) | |||
5 | X射线探测系统 | 封气正比计数器 | |
装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路 | |||
6 | 样品室 | CMI900 | CMI950 |
－样品室结构 | 开槽式样品室 | 开闭式样品室 | |
－zui大样品台尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
－XY轴程控移动范围 | 标准：152.4 x 177.8mm 任选：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
－Z轴程控移动高度 | 43.18mm | XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm | |
－XYZ三轴控制方式 | 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 | ||
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