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x射线荧光光谱分析仪
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2016-10-18南京市
- 型号
- 参数
- 品牌:其他品牌
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产品简介
x射线荧光光谱分析仪采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数22号（钛）以上的所有元素。
详细信息
x射线荧光光谱分析仪技术参数：
激发源 高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗
电压及功率 40 kV, 40 W
探测器 大面积正比计数器，1100 mm²感应面积
光斑尺寸 准直器交换器，0.3 mm或以上
样品观察 高分辨彩色摄像系统，放大倍数20-40倍
样品台 马达驱动Z方向样品台，自动对焦。
选项：马达驱动X-Y-Z样品台，自动对焦，便捷进样功能
定量分析 块状样品：基于标样的经验系数法模型和无标样模型
镀层分析：基本参数法模型
电源： 110 to 230 V AC; 50/60 Hz, zui大功率100 W
尺寸（宽x深x高）550 x 700 x 430 mm
重量 46 kg
M1 MISTRAL（SDD）
激发源 高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗
电压及功率 50 kV, 50 W
探测器 电制冷高性能XFlash® 硅漂移探测器，30 mm²感应面积，对Mn-Ka能量分辨率小于150 eV
光斑尺寸 准直器交换器，0.5 mm或以上
样品观察 高分辨彩色摄像系统，放大倍数20-40倍
样品台 马达驱动X-Y-Z样品台，自动对焦，便捷进样功能。
定量分析 块状样品：基于标样的经验系数法模型和无标样模型
镀层分析：基本参数法模型
电源： 110 to 230 V AC; 50/60 Hz, zui大功率120 W
尺寸（宽x深x高）550 x 700 x 430 mm
重量 50 kg
