初级会员第 14 年生产厂家
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电脑测控高精度测厚仪
接触式测量原理
微电脑控制,液晶显示
手动、自动双重测量模式
测量头自动升降
数据实时显示、自动统计
自动识别计算Z大值、Z小值、平均值
微型打印机实时输出结果
应用范围
产品名称 | 适用范围 |
薄膜 | 用于薄膜、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度测量。 |
铝箔 | 对金属箔片等硬质材料厚度测量。 |
太阳能硅片 | 接触式测试原理更有效的检测出太阳能硅片上每个点的厚度值。 |
纸张 | 通过调节测量头可完整纸张规定的压力和面积,完整各种纸张、纸板材料厚度测试。 |

电脑测控高精度测厚仪GB/T6672
电脑测控高精度测厚仪GB/T6672 技术参数
1.测量范围:0~2mm
2.分辨率:0.1μm
3.测试速度:10次/min
4.测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
5.接触面积:50mm2(薄膜),200mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种
6.电源:AC220V50Hz
7.外形尺寸:460mm×350mm×365mm
标 准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、T APPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
