仪器特点：
同时分析测量多种元素（根据客户要求配置从Na到U的任意多种元素）；
可检测固体﹑液体﹑粉末，无需复杂的制样过程；
采用*SI-PIN探测器，分析速度快；
精确度高，稳定性好，故障率低；
采用多层屏蔽保护，辐射安全性可靠；
基于WINDOWS XP/VISTA 中文应用软件功能丰富，**的分析方法，各种图表和趋势图为操作者提供直观的支持，操作简单，使用方便,分析结果可直接输出到Excel，便于进行统计分析。

主要技术指标：
1.多功能置样装置
X荧光分析仪的置样装置具有可容纳各种形态被测样品的样品室。
A．样品种类：固体﹑液体﹑粉末。
B．样品室的环境：可选择空气﹑真空。由软件自动控制，无需人工操作。
2.X射线管激发系统
系统采用50KV的低功率正高压X射线发生器作为激发源。由高电压发生器，X射线发生器及控制显示系统等部分构成。
A.高压发生器：电压与电流采用软件自动控制及显示。
电压范围：0V至50kV连续可调。
电流范围：0mA至1mA连续可调。
B. X射线发生器：采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命的X光管，并根据实际应用需要选择靶材。
3.进口的高分辨率SI-PIN探测器系统 SI-PIN电制冷高分辨率高计数率探测器。
4.系统软件
A．操作： WINDOWS XP操作系统软件，功能强大，使用方便。
B．功能：能谱显示，分析元素设置，能量刻度，X光高压、电流自动控制，自动真空控制。
C．分析方法：线性拟合，二次曲线，强度校正，含量校正，基本参数方法。
D．仪器的漂移自动修正：保证仪器的分析结果*稳定。