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X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪X-Strata980 X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪X-Strata980

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2017-07-22厦门市
型号
X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪X-Strata980
厦门欣锐仪器仪表有限公司

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产品简介
X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪X-Strata980
详细信息

 

X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率*,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级,确保产品满足环保要求,帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择Z合适的分析模型:经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品,大舱门使样品更易放入。
  • 100瓦X射线管 
  • 25mm2PIN 探测器
  • 多准直器配置
  • 扫描分析及元素分布成像功能
  • 灵活运用多种分析模型
  • 清晰显示样品合格/不合格
  • 超大样品舱
  • 同时分析元素含量和镀层厚度
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