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CH-1-S型 薄膜测厚仪,薄膜测厚仪供应,生产薄膜测厚仪

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2021-02-24上海市
型号
CH-1-S型
上海隆拓仪器设备有限公司

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产品简介
CH-1-ST型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。
本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。:
详细信息

 CH-1-ST型薄膜测厚仪,薄膜测厚仪供应,生产薄膜测厚仪,上海薄膜测厚仪

 CH-1-ST型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。
本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。 

CH-1-ST型薄膜测厚仪技术参数

◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm  
◎上测头曲率半径:15-50mm 
◎测头对试样施加负荷:0.1-0.5N
◎测量精度: 100vm以内 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm 
◎执行标准:GB6672-86 
◎本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度不适用于压花的薄膜和薄片.

上海隆拓专业供应:CH-1-ST型薄膜测厚仪,薄膜测厚仪供应,生产薄膜测厚仪,上海薄膜测厚仪

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