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边界扫描|边界扫描机|边界扫描设备|jtag边界扫描|边界扫描测试

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2018-05-15深圳市
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该企业相似产品
ATE测试,电源测试,老化测试,PCBA测试,FCT测试,音频测试,视频测试,FPC测试,电路板测试,功能测试
产品简介
边界扫描测试发展于上个世纪90年代,随着大规模集成电路的出现,印制电路板制造工艺向小,薄发展,传统的ICT测试已经没有办法满足这类产品的测试要求。由于芯片的引脚多,元器件体积小,板的密度特别大,根本没有办法进行下探针测试。
详细信息

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边界扫描测试(Boundary scan test)
    边界扫描测试发展于上个世纪90年代,随着大规模集成电路的出现,印制电路板制造工艺向小,微,薄发展,传统的ICT测试已经没有办法满足这类产品的测试要求。由于芯片的引脚多,元器件体积小,板的密度特别大,根本没有办法进行下探针测试。一种新的测试技术产生了,联合测试行为组织(Joint Test Action Group)简称JTAG 定义这种新的测试方法即边界扫描测试。被电工委员会收录为IEEE1149.1-1990 边界扫描测试测试访问端口和边界扫描结构标准。该标准规定了进行边界扫描测试所需要的硬件和软件。自从1990 年批准后,IEEE 分别于1993 年和1995 年对该标准作了补充,形成了现在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1b-1994。JTAG 主要应用于:电路的边界扫描测试和可编程芯片的在线系统编程。
边界扫描的测试原理:
    图中所示,芯片与芯片紧密着,IC与IC之间有大量的引脚关联,通过JTAG接口4条线,在软件的控制下,就可以将IC的每个引脚的状态读取出来。TDI 为数据输入端,TMS为模式控制端,TCK为时钟控制端,TDO为数据输出端。当芯片工作于边界扫描模式下,芯片就像是一个可编程的芯片,每个引脚都可控制,读写。边界扫描测试软件发出的扫描数据通过端口TDI进入IC,结合模式控制端口TMS和时钟控制端口 TCK,一个扫描周期里,数据输出端口就获取一段边界扫描测试扫描数据,边界扫描测试通过分析比较输入输出数据等运算,就可以判断IC引脚的状态,不同模式,边界扫描测试有不同的数据输出,运用不同的模式扫描,从而确定IC功能是否完好,焊接是否良好,是否有开短路。
一、边界扫描测试系统硬件要求:
  1.电脑
  2.TAP 接口
  3.电源和夹具
二、边界扫描测试系统软件要求:
  1.JTAG驱动编程软件,比如JTAG,ONTAP,Gopel等
  2.边界扫描测试开发软件:比如 Labview,VB,C++等系统集成开发软件
三、边界扫描测试系统测试那些参数:
  1.Interconnection test 交联性测试
  2.Link test 连接测试
  3.Flash memory test 闪存IC测试
  4.DDRAM test  随机存储器测试
  5.通过JATG 进行非JTAG器件测试
四、开发边界扫描测试系统需要那些文件:
PCBA是否可以用边界扫描来测试,取决于PCBA上是否有支持JTAG功能的IC,除此之外,还需要提供如下基本文件:
  1.BSDL file
  2.Netlist
  3.Schematic(circuit diagram)

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