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膜厚测量仪OSPrey800

具体成交价以合同协议为准

2018-05-15
型号
广东正业科技股份有限公司

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该企业相似产品
镀层测厚仪,离子污染测试仪,X-ray检查机,涂层测厚仪, CMI500孔铜测厚仪,CMI165面铜测厚仪,CMI900镀层测厚仪,UV激光切割机,外观检查机,检孔机
产品简介
OSPrey800@膜厚测量仪利用光谱分析原理无损检测OSP镀层厚度。无需准备样品,可实时检测实际产品上的OSP镀层厚度。
详细信息

OSPrey800@膜厚测量仪利用光谱分析原理无损检测OSP镀层厚度。无需准备样品,可实时检测实际产品上的OSP镀层厚度。

OSPrey800@膜厚测量仪在检测过程中不会对PCB/PWB板产生不利影响。通过进行PCB/PWB上OSP镀层厚度的定量、完整性、可靠性及膜层形态的细致分析,进而检验OSP镀层的应用可靠性。

检测可在OSP镀层的生命周期的不同阶段进行,使用户可以通过监控OSP镀层形成和储藏过程中产生的不良变化对工艺进行必要的调整。例如,可以在PCB/PWB生命周期的不同阶段检测OSP镀层的厚度以预测在后续的工艺过程中由于OSP镀层的可焊性变化而对工艺产生的影响。

    OSPrey800@膜厚测量仪产品特色:

  • 无损实时检测
  • 不再使用检验铜箔,无需样品制备
  • 超小检测点
  • 二维图象分析功能
  • 可在粗糙表面测量OSP镀层厚度
  • 人性化操作流程设计
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