该技术的主要特征为：利用低能X射线激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率；采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的*性；利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

技术指标

分析精度：0.05% （含量>96%）
测量时间：60s-200s
管压：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
能量分辨率为：（150±5）eV
元素含量分析范围：1ppm-99.99%
同时分析元素：24种元素同时分析
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
功能范围：RoHS行业、玩具行业、陶瓷、冶金、矿山

产品参数
输入电压：AC 110V/220V
消耗功率：200W
环境温度:15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔面积: 320mm×180mm
外形尺寸：650mm×608mm×466mm
重量：75kg

主要配置

抽真空系统——升华科技的可能
      与传统仪器相比，新增加的抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的版图。
              一张一合、一起一落，尽在手指轻触间。
NO.2 内部结构——力与美的*融合
      整体钢架结构，力度可靠的保证；外观塑料造型，圆润优雅
NO.3 准直器和滤光片的自动切换系统——沿袭智能传统
      免去手工操作带来的繁琐，科技的魅力在人性化中绽放
NO.4 三重安全保护模式
NO.5 相互独立的基体效应校正模型
NO.6 多变量非线性回归程序
NO.7 任意多个可选择的分析和识别模型
NO.8 高信噪比的电子线路单元
NO.9 美国产卤素测试高效X光管
0 卤素测试X荧光分析软件
1 采用天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE）