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| 选件编号 | 频率范围 | 适用场景 |
|---|---|---|
| Opt.030 | 1MHz~300MHz | EMI 磁珠、2.4G 低端射频元件量产 |
| Opt.050 | 1MHz~500MHz | 蓝牙、GPS 射频线圈 |
| Opt.100 | 1MHz~1GHz | Sub-6G 射频电感、小型贴片元件 |
| Opt.300 | 1MHz~3GHz | WiFi6/6E、UWB、毫米波前端高频器件研发 |
模式 1(极速产线):0.9ms / 频点,高速自动分选
模式 2(均衡):2.1ms / 频点,兼顾速度与重复性
模式 3(高精度研发):3.7ms / 频点,低误差曲线扫描
基础测量精度:±0.8%,典型值低至 ±0.45%
阻抗覆盖:140mΩ~4.8kΩ,覆盖微小贴片电感、高频电容、功率磁珠
优势:对 nH 级极小电感测量波动远低于普通矢量网络分析仪,无需复杂 TRL 校准
阻抗 / 导纳基础:|Z|、|Y|、X 电抗、B 电纳、G 电导
电感 / 电容 / 电阻
串联:Ls、Rs、Cs、Rs(ESR 等效串联电阻)
并联:Lp、Rp、Cp、Rp
损耗品质参数:D 损耗因子、Q 品质因数(射频元件核心指标)
相位参数:阻抗相位 θz、导纳相位 θy(角度 / 弧度双单位)
自定义参数:可组合四则运算,用于 BIN 判定、极限对比计算
单列表最多 201 个自定义频点,支持 8 组列表循环,总计 1608 个测试点
两种显示模式:数值表格、频率 - 参数曲线(自动绘制 L-Q、C-ESR 频域曲线)
一键导出 CSV 数据至 U 盘,离线 Excel、MATLAB 分析
一键读取电感自谐振频率 SRF、电容高频损耗拐点,快速评估射频元件高频性能
多功能比较器多 BIN 分拣
可设置多组上下限阈值,自动判定良品 / 超上限 / 超下限,输出分拣信号直连自动元件机械手;支持 L、Q、D、ESR 任意参数做判定条件。
Rdc 直流接触电阻自检
测试前自动检测探针接触电阻,识别探针脏污、元件漏放、虚接触,大幅降低产线误判报废率。
声光报警:超差蜂鸣提示、屏幕状态标识,适配 24 小时自动化流水线。
全兼容 4287A 机械手 IO、SCPI 程控,原有产线程序无需大幅修改。
三点标准校准:开路 Open、短路 Short、标准负载 Load
夹具线缆长度补偿、测试头寄生参数补偿
Opt.004 标准校准套件(短路片、51Ω 标准贴片电阻),支持机械手治具现场快速校准
多套校准文件存储,不同夹具一键切换调用
功率电感、大电流磁珠:测试直流偏流下 L 值跌落、Q 值衰减
变容二极管、滤波电容:带直流偏压高频阻抗特性表征
复现 PCB 实际工作状态,避免空载测试数据失真。
存储整机测量设置、极限分选参数、多频扫描列表,多批次测试一键调取配置
屏幕截图保存、测试日志记录,便于批次追溯、品质复盘
支持统计分析:批量测试均值、值、最小值、标准差、CPK 制程能力指数,来料质检、工艺监控专用。
Opt.004 标准校准件套件:产线机械手现场校准专用,含短路片、标准贴片电阻
Opt.020 2 米延长测试线缆:标配 1 米,加长适配大型自动分选机、离线治具远距离测试
AU 频段升级:030 机型可后期升级 050/100/300,无需更换整机,复用设备投资
DC 外部偏置适配器:功率电感、带压电容带载测试拓展配件
各类 SMD 贴片测试夹具(7mm 接口通用):0402/0603/0805/1206 等封装元件台式测试治具
人机界面:10.4 英寸彩色触控屏,自定义快捷功能键,内置中文操作帮助文档
标配通信接口:LAN、USB、GPIB,电脑远程程控、数据导出
专用机械手 IO 接口:直连自动元件分选机,实现全自动无人测试
7mm 同轴测试端口,兼容 4287A 系列全部射频夹具,降低配套采购成本
射频无源元件量产(核心)
SMD 射频电感、功率磁珠、MLCC 高频电容、共模 EMI 滤波器、天线线圈高速 BIN 分选。
无线通信研发
WiFi6/6E、蓝牙、UWB、GPS 射频前端;测量电感 SRF 自谐振频率、高频 Q 值、ESR 串联损耗。
电源与车载电子
开关电源功率电感、车载射频滤波器,叠加直流偏置观测动态阻抗特性。
来料质检与实验室
元器件批次频域特性比对、第三方计量抽检、射频新材料阻抗表征。
极速量产能力:0.9ms 单点测试,单机匹配高速自动分选产线,提升日产能
高频 nH 电感测量优势:RF-IV 架构,微小电感测量重复性优于矢量网络分析仪,校准流程简单
全频段可升级:低频机型后期付费升级 3GHz 顶配,设备长期复用
产线无缝兼容:夹具、程控、机械手兼容 4287A,产线改造零门槛
研发量产一体机:极速分选 + 多频曲线扫描双模式,工厂产线、研发实验室通用
低测量波动:高稳定测量回路,大批量元件测试数据一致性好,降低报废率