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Helios Y 成像式亮度计
具体成交价以合同协议为准
2026-06-26深圳市
- 型号
- Helios Y
产品简介
ADMESY Helios Y 成像式亮度计，是进口二维面阵亮度检测设备。设备搭载 6500 万像素 CMOS 传感器与符合 CIE1931 标准的 Y 滤光片，可一次性完成整面区域亮度成像测量。设备兼容 EF 系列电控镜头，支持万兆网高速数据传输，自带平场校正与暗电流补偿功能，适用于显示面板、车载发光件、背光模组的亮度均匀性检测，可适配实验室研发与自动化产线在线质检。
详细信息
1. 产品概述
Helios Y 成像式亮度计由荷兰 ADMESY 研发生产，是一款高精度面阵光学检测设备。这款成像式亮度计搭载高分辨率面阵探测器与定制 Y 干涉滤光片，光谱响应贴合人眼视觉曲线，单次拍摄即可采集整个被测面的全部亮度点位数据，有效提升全域亮度分布的检测效率。设备支持可更换电控镜头，光圈与对焦均可通过软件远程控制，配套自动平场校正、暗电流降噪功能，既可以用于实验室样品标定，也能直接集成到自动化流水线，完成大批量产品在线光学检测。
2. 硬件与光学配置
成像探测单元
设备配备 6500 万像素 CMOS 图像传感器，具备 12bit 模数转换能力，积分时长可灵活调节。自研 Y 通道滤光片经过出厂统一调校，光谱匹配度稳定，通道偏差控制在合理区间。设备支持多档像素合并功能，通过合并像素能够优化低亮度环境下的数据稳定性，适配暗光与高亮等多种测试工况。
可更换电控镜头
兼容 50mm 与 85mm 两款 EF 镜头，对应不同视场范围与工作距离：
50mm 镜头适用距离 400mm~2000mm；
85mm 镜头适用距离 850mm~2000mm。
光圈支持多档位软件电控切换，可按需选配外置衰减镜片，进一步拓宽亮度测量区间。设备会针对不同光圈自动调用平场校正参数，减小画面中心与边缘的亮度偏差。
校准与降噪功能
内置暗电流补偿程序，弱化长时间曝光带来的图像噪声；整机预设多组平场校准文件，更换镜头与光圈后可自动调用校正数据，减少人工反复校准的操作，保障长时间测量的数据一致性。
3. 电气与通信参数
数据传输：10GIGE 万兆以太网，大图文件传输流畅，满足产线高速节拍；
供电条件：12V 直流供电，电压区间稳定，配套专用电源；
机身结构：不含镜头整机仅 0.9kg，体积小巧，支架安装灵活；
使用环境：工作温度 15℃~35℃，湿度保持在 10%–70% 无冷凝环境。
4. 测量性能
设备拥有较宽的亮度测量区间，可捕捉低亮度画面信号，搭配衰减镜片可向上拓展测量上限。全量程亮度测量偏差控制在合理范围；开启像素合并后，重复测量的数据离散度会进一步收窄。单次测量耗时由曝光时长与图像处理时长共同决定，可根据样品条件灵活调整参数。
5. 产品使用优势
① 高像素面阵一次性成像，批量检测效率优于单点亮度测量设备；② 可更换不同焦距镜头，适配小尺寸背光、大屏显示器、车载灯具等多种样品；③ 光圈、对焦全软件电控，便于和运动平台联动，搭建无人值守自动化检测工位；④ 自动平场 + 暗电流补偿，减少人工校准频次，平稳控制设备运维工作量；⑤ 万兆网高速传输，高分辨率图像数据传输顺畅，适配高速自动化产线；⑥ 机身轻量化，安装移位便捷，占用设备空间更小。
6. 适用行业场景
显示行业：LCD、OLED、MiniLED 屏幕亮度均匀性、Mura 缺陷、画面梯度亮度检测；
车载电子：汽车仪表屏、中控屏、氛围灯、车标发光件、尾灯全域亮度测试；
背光与照明：键盘背光、导光板、LED 面光源、指示灯亮度一致性标定；
研发实验室：发光器件亮度参数测试、新材料光学性能对比验证；
工业自动化：搭配运动模组与工控系统，完成大批量产品在线亮度质检。
7. 补充说明
本设备实测性能基于原厂标准测试条件，实际数值会随被测样品、环境温湿度产生小幅浮动。硬件规格与镜头适配清单会随版本迭代微调，选型可索取规格文档核对。设备产地为欧洲荷兰，属于进口光学仪器，主要用于显示行业各类发光产品的亮度品质检测。
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