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柯尼卡美能达的光源近场测量仪SIG-400能精准测量近场发光强度,特别针对LED和其他小型光源。
通过从多个视角抓取描述光源亮度和色度空间结构的图像数据,SIG-400TM为小型光源生成高精度近场模型。这些数据以行业标准的Radiant Source ModelTM格式存储,既可方便地用于详细的分析,也可在之后轻松地导出至主流光学设计软件包。
SIG-400TM光源近场测量仪适用于广 泛的测量应用场合,可以满足LED测量应用的需求,提供了经济高效的解决方案。
柯尼卡美能达的光源近场测量仪SIG-400适用于LED设计,LED封装设计,LED特性测量,并为客户提供LED模型。
针对LED芯片和器件测量进行了优化
有多种CCD分辨率和不同视场大小的镜头可供选择
提供亮度和色度近场模型
利用集成图像数据生成 Radiant Source ModelsTM提供完整分析
新增更简单、更直观的分光仪设置