吉时利2510 Keithley 2510 TEC温控源源表

Keithley 2510 TEC温控源表，为激光二极管模块提供严格温度控制，集成精准控温、电源供应与测量功能，适配研发与生产多场景测试需求，保障测试数据的可靠性与重复性。

精准温度控制：采用全数字P-I-D控制技术，温度设定范围覆盖-50℃至+225℃，控温稳定性可达±0.005℃，分辨率达±0.001℃，能有效防止激光二极管主输出波长因温度变化产生偏移，避免信号重叠与串扰问题。

- 高效功率输出：搭载50W TEC控制器，相比低功耗解决方案，可提供更高的测试速度与更宽的温度设定范围，能快速响应温控需求，适配高功率测试场景。

- 多传感器兼容：支持热敏电阻、RTD、IC传感器等多种温度传感器输入，可适配不同类型激光二极管模块的测试需求，无需额外适配设备，提升使用灵活性。

- 全面保护功能：配备交流欧姆测量功能，可有效验证TEC器件的完整性；采用四线开路/短路引线检测技术，能消除热反馈元件的引线电阻测量误差，减少假故障判断与设备损坏的可能性。

- 便捷集成操作：采用紧凑的半机架式设计，节省机架空间；支持IEEE-488与RS-232接口，可轻松接入自动化测试系统，实现远程控制与批量测试，简化系统集成与编程流程。

产品规格

- 通道数量：1个

-电流源/量程：5A

电压源/量程：10V

- 输出功率：50W

- 温度控制范围：-50℃至+225℃

- 温度设定分辨率：±0.001℃

- 温度控制稳定性：±0.005℃

- 兼容传感器类型：热敏电阻、RTD、IC传感器

- 测量功能：交流欧姆测量、四线开路/短路检测

- 接口类型：IEEE-488、RS-232

- 外形设计：半机架式

应用场景

- 激光二极管模块LIV测试：可精准控制激光二极管模块中热电冷却器的温度，为光功率-电流-电压（LIV）测试提供稳定的温度环境，保障测试数据的准确性与重复性，适用于光通信网络激光二极管模块的研发与生产测试。

- 冷却光学元器件测试：宽温度设定范围与高精度控温性能，可满足大部分冷却光学元器件和子装配件的生产测试需求，适配光学器件温度特性验证场景。

- 半导体器件老化测试：能稳定模拟不同温度工况，为半导体器件（尤其是激光二极管类器件）的老化测试提供精准温控支持，助力评估器件长期运行的可靠性。

- 精密电子研发测试：适用于对温度敏感的精密电子元器件研发过程中的温度控制与特性测试，可根据测试需求灵活调整温度参数，为研发工作提供可靠的数据支撑。

- 自动化测试系统集成：支持远程控制与批量测试，可无缝融入自动化生产线或研发测试平台，提升测试效率，适配大规模、高效率的测试场景。

长期供应租售以下设备：

Keithley 2510 TEC温控源表

Keithley  2400 数字源表

Keithley  2450 数字源表

Keithley  2602B 双通道数字源表

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