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离子减薄制样
具体成交价以合同协议为准
2026-07-22武汉市
- 型号
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产品简介
仪器名称：离子减薄制样型号：GatanPIPS695；GatanPIPS691检测项目：离子束减薄，表面氧化膜去除应用范围：适用于陶瓷、半导体、合金及薄膜截面样品离子束减薄
详细信息
仪器名称： | 离子减薄制样 | 型号： | Gatan PIPS 695； Gatan PIPS 691 |
检测项目： | 离子束减薄，表面氧化膜去除 | ||
应用范围： | 适用于陶瓷、半导体、合金及薄膜截面样品离子束减薄。适用于合金样品表面氧化膜去除。可以单面或双面做样品离子束减薄；设备配有冷台，减少由于离子束轰击产生热量使样品析出相发生变化。运用该仪器制备的样品中间的薄区可用于透射电镜观测 | ||
制样要求： | 处理前试样厚度：D<0.08mm | ||
PS：送样请附带“委托测试单”。
测试提示：
1.可开正规测试发票，附带测试清单。
2.有腐蚀性，毒性，或其他有危害性等特殊样品要事先告知测试人员，测试人员也要告知样品方哪些样品不能测或会对仪器产生损伤，测试后会对样品产生哪些变化；
3.客户需提供详细的样品资料，包括元素，主要成分和详细测试参数及条件。和测试人员充分讨论，商定最终测试条件；
4.测试人员与顾客通过或邮件沟通，出现测试纠纷，邮件或记录将作为重要的仲裁依据；请加和技术人员交流：。
5.杜绝测试、解析和合成违反国家相关法律法规的样品，一经发现将追究其法律责任。
