Delta-L测试系统

    Delta L4.0是Intel开发的新⼀代PCB插入损耗量测⽅法，为了解决更⾼频率量测时Launch Pad以及Via的负⾯效应，Delta L4.0测试⽅法量测三条不⼀样长度的线來得到纯粹的线路信号损失，虽然量测时间相对于只有⼀条线的SET2DIL来的慢，但是可以得到纯粹线路的信号损失，把Launch Pad以及Via效应相互抵消。在原理上Delta L4.0量测⼀组有三种不⼀样线长的样品，量测后将兩长短线的插入损失相减，就可以得到纯粹线路长度差异所造成的损失（如右图），最后再除以长度差，就可以得到单位长度的损失（如dB/In, dB/cm）。并且提供不确定性（Uncertainty)还有两两线长相减的结果来做自我比对，提供高精确的测试结果。

系统特色：

• 使用PNA/VNA量测Delta L4.0，增加产出、精度和测量效率

• 测量速度:5~10s/poit

• 自动计算Delta L4.0测试结果，无须⼈员做后处理

• 自动生成报告EXCEL测试报告、图片等原始测量资料存储

• 测量数据自我比对(Difference)以及不确定性参数验证(Uncertainty)

• 高达40GHz的增强物理拟合算法

• 良好的重复性

• 快速E-Cal校正程序，⼀键完成校正程序，无须⼈员操作⽰波器

• 自动阻抗量测

• 自动Pass/Fail判断每个测点量测完成自动显示Pass/Fail于画面上

• 单独验证每对线中的S21&S43 Spec控制功能，提前验证线路好坏

• 搭配脚踏开关，快速测试

测试夹具：

夹具技术参数：

• High Bandwidth: DC to 40 GH

• Low Insertion Loss: < 3 dB @ 40/20 GHz

• Impedance: 100±3 Ohm

• Signal-Signal Only: Accurate S-parameter and TDR measurements without the need of nearby ground pads

• Ruggedness: Strong enough for direct probing of uneven solder bumps

• High Repeatability: No moving parts

• Connector Type: 2.92mm/SMA Female
  

• Size: 51 x 38 x 12 mm (2 x 1.5 x 0.5 in)

• Weight: 10 gm

• Probe force: 80 gm (typical) 350 gm (max w/o damage)