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X-MET8000 Optimum是推出的手持式X射线荧光光谱仪,该仪器结合了50kV微型X射线管和独特的大面积高分辨率硅漂移探测器(SDD),革命性地改善了手持仪器的分析精度和测量时间。
该仪器广泛应用于分析合金成份、牌号鉴定及金属镀层进行有效现场分析,不仅可以检测常见的不锈钢、中低合金钢、工具钢、铝合金、钛合金、镍合金、钴合金、铜合金、锌合金还可以检测诸如Au, Ag, Pt, Sn, Pb, W, Bi等一些特殊的合金。X-MET8000 Optimum亦可以进行提供失效金属材料化学成分分析,可以结合其他的分析手段寻找材料失效原因。
能量色散X射线荧光光谱法
仪器操作方便,不需要专门技术人员,只要将仪器测量窗口对准待分析的均质样品,按下测量按钮,1~10秒即可得到各元素(最多35种)的含量。
X-MET8000 Optimum可分析的元素范围是元素周期表中原子序数12Mg到92U之间的元素。X-MET8000 Optimum工厂预制的基本参数法校准曲线可分析的元素包括Ag, Al, Au, As, Bi, Cd, Cr, Co, Cu, Fe, Hf, In, Ir, Mg, Mo, Mn, Nb, Ni, P, Pd, Pt, Pb, Re, S ,Se, Si, Sn, Sb, Ta, Ti, V, W, Y, Zn, Zr等35种元素,亦可根据客户特殊需求增加特殊分析元素。
· 可选防护窗口,防止探头和X射线管在测试小部件和尖锐物体时受损;
· 可提供便携式蓝牙打印机,现场打印分析测试结果,将结果贴在样品上,避免混样;
· 可选折叠式台式支架,易于携带,无需使用交流电;
· 配置摄像头和小点准直器,帮助检测时定位样品测试点,并将光斑集中到3mm直径区域内,以便分析小样品:
· 图片可以保存、读出并且可以添加到测样报告中;
· 放大尺寸:6倍;
· 图片对于样品大小:大约7.5mmX6mm
· 图片大小:640像素X480像素;
· 摄像头技术:CMOS