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显微计数法不溶性微粒仪专用过滤装置ZM-G25
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2026-03-27上海市
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产品简介
产品简介：ZMS850大颗粒计数粒度图像分析仪系统是采用图像法测量颗粒粒度大小、形状特征、颗粒表面颜色的颗粒分析系统。其工作原理是通过专用高分辨率CCD线性传感器和光学扫描平台，将颗粒图像信息采集下来并传输到计算机中，用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析。结合智能的背景分离及的颗粒边界搜索算法，将
详细信息
产品简介：
ZMS850大颗粒计数粒度图像分析仪系统是采用图像法测量颗粒粒度大小、形状特征、颗粒表面颜色的颗粒分析系统。其工作原理是通过专用高分辨率CCD线性传感器和光学扫描平台，将颗粒图像信息采集下来并传输到计算机中，用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析。结合智能的背景分离及的颗粒边界搜索算法，将目标颗粒与背景分离，分析出各种测量参数。
产品特点：
仪器具有超大测量范围及高分辨率，同时具有直观、可视、准确、操作简单、测量参数全面等特点。是目前能够同时测量颗粒粒度、形状及表面颜色的新型大颗粒粒度分析仪器。
技术参数：
测量范围：5μm ～ 100mm
重复性误差：<>
等效粒径：等面积圆、等周长圆、等效短径、等效长径、等效椭圆短轴、等效宽度、等效长度、等效正六边形短轴、等效正六边形长轴。
粒度统计：体积、面积、颗粒、数量统计
形状参数：圆度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度
测量方式：干法
光学传感器：CCD线性传感器
图像分辨率：20000 * 20000
光学平台：220mm * 300mm
背景光源：反射光
工作环境：5～35℃（温度）, ＜85%（相对湿度）
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