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  • 198000
  • ≥1件

EDX2000A 镀层分析仪 X荧光膜厚仪 X-RAY镀金膜厚仪

具体成交价以合同协议为准

2026-03-09苏州市
型号
EDX2000A
参数
品牌:天瑞仪器 测量范围:硫到铀 外形尺寸:453*356*485mm 重量:50kg 测量精度:1ppm 产地:国产 加工定制:是 工作温度::15-30℃ 相对湿度::≤70% 电 源::220±5V
江苏天瑞仪器股份有限公司

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该企业相似产品
光谱仪,质谱仪,色谱仪 ROHS检测仪器,镀层膜厚仪器
产品简介
镀层分析仪 X荧光膜厚仪 X-RAY镀金膜厚仪
性化的软件界面,让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注,让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。
详细信息

镀层分析仪  X荧光膜厚仪 X-RAY镀金膜厚仪镀层分析仪  X荧光膜厚仪 X-RAY镀金膜厚仪

镀层分析仪  X荧光膜厚仪 X-RAY镀金膜厚仪

EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析,满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动,双激光定位和保护系统。

镀层分析仪  X荧光膜厚仪 X-RAY镀金膜厚仪

镀层分析仪  X荧光膜厚仪 X-RAY镀金膜厚仪

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高硬件配置
采用Fast-SDD探测器,高达129eV分辨率,能精准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。
搭配大功率X光管,能很好的保障信号输出和激发的稳定性,减少仪器故障率。
高精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动,更精准快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。

设计亮点
上照式设计,可适应更多异型微小样品的测试。相较传统光路,信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头,搭配距离补正系统,满足微小产品,台阶,深槽,沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台,微小密集型可多点测试,大大提高测样效率。自带数据校对系统。

软件界面
人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注,让您的操作更易上手。



镀层分析仪  X荧光膜厚仪 X-RAY镀金膜厚仪
应用领域
电镀行业、电子通讯、航天新能源、五金卫浴、电器设备
汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等



镀层分析仪  X荧光膜厚仪 X-RAY镀金膜厚仪












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产品参数

品牌 天瑞仪器
测量范围 硫到铀
外形尺寸 453*356*485mm
重量 50kg
测量精度 1ppm
产地 国产
加工定制
工作温度: 15-30℃
相对湿度: ≤70%
电 源: 220±5V
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