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XS/XP系列 梅特勒微量天平
具体成交价以合同协议为准
2026-03-08广州市
- 型号
- XS/XP系列
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产品简介
DU=双量程；sd=标准偏差
DR=变量程；sd=标准偏差
梅特勒-托利多创新的微量高效称量、用这些微量天平可以提供现有分析天平具有的高分辨率：高达52,000,000位。明亮的触摸显示屏、智能化用户操作指导以及无需用手接触的红外防风罩控制功能使得该系列高精度天平称量更快速、操作更简便、更有趣味，优先选择，适用于昂贵样品的称量。
详细信息
微量天平XS 微量天平xp
一、微量天平xs简介
梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有的称量性能，满足基础称量应用：在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中较好的重复性可低至0.8 μg，是获得理想的称量可靠性的关键，避免不必要的重复测试，显著地降低了样品和时间的浪费。
性能特点
●采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
●优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
●丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量
●GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作。
技术参数
| 型号 | 称量值[g] | 可读性[mg] | 重复性(sd)[mg] | 线性误差[mg] | 典型稳定时间[s] | 秤盘尺寸[mm] |
| XS3DU | 0.8/3.1 | 0.001/0.01 | 0.0008/0.006 | 0.01 | 6 | Ø27 |
二、微量天平XP
●天平校验功能（BalanceCheck），自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平，确保称量结果始终准确
●GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
●优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
●可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁
●丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量
●最小称量值（Minweigh）功能：可设置多达3个符合不同质量法规（GMP/GLP/USP）的最小称量值，满足相关质量法规要求，获得*的称量帮助。
1、ErgoClip Flask micro（选件）：小容量瓶易巧称量件，安全放置试管、容量瓶等去皮容器，实现微量样品的直接加样。
2、MinWeigh Door micro（选件）：最小称量防风门，通过加样窗口直接将样品加入到去皮容器，无需开关防风罩，有效减少气流影响，快速获得稳定称量结果。
3、一体化去静电装置（选件）：有效减少静电荷对称量结果准确性的影响。
| 型号 | 称量值 [g] | 可读性 [mg] | 重复性（sd） [mg] | 线性误差 [mg] | 典型稳定时间 [s] | 秤盘尺寸（W×D） [mm] |
| XP26 | 22 | 0.001 | 0.0025 | 0.006 | 3.5 | 40×40 |
| XP26DR | 5.1/22 | 0.002/0.01 | 0.002/0.008 | 0.01 | 3.5/2.5 | 40×40 |
| XP56 | 52 | 0.001 | 0.006 | 0.02 | 3.5 | 40×40 |
| XP56DR | 11/52 | 0.002/0.01 | 0.002/0.014 | 0.03 | 3.5/2.5 | 40×40 |
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