自动化多用途粉末 X 射线衍射仪：XRDynamic 500

在许多衍射仪中，每个测量光学几何结需要用户更换部件。只有在打开仪器手动更改配置后，才能依次执行两种不同类型的测量。

借助电动光学堆栈，单击按钮即可在多达 3 种光束几何之间切换（适用于所用任何类型的 X-射线管）。其独特的源倾斜轴使得每个几何结构都能精确且自动地校准。

自动切换多达 3 种光束几何，使其能够在不同（或相同）的样品上连续进行不同类型的测量，无需更换部件或任何用户输入。在通宵和周末运行复杂的测量批次而无需任何用户干预，享受到仪器正常运行时间高达 50% 的增加。

选择正确的光学元件通常意味着更换组件并在测量软件中手动更新测量配置。这很耗时，可能会导致错误，并且需要监督或对更多缺乏经验的用户进行广泛培训，以定期收集高质量的 XRD 数据。

光路中所有光学组件的自动化，只需点击即可更改仪器配置。无需实际更换部件或用户干预。

自动切换到正确的光学元件并始终识别当前配置，节省时间并减少用户出错的机会。即使对于刚接触 XRD 的用户来说，其测量设置也非常直观且直接。

衍射仪的校准，尤其是 X-射线光学元件的校准，需要专业知识，甚至需要。对于缺乏经验的用户来说，样品校准同样也很困难。

全自动仪器校准程序允许随时执行仪器自校准。自动样品校准程序可用于每个样品。

取消，并让仪器自对齐。确保仪器（和样品）始终校准以获得更佳质量的数据，更大限度地延长正常运行时间并降低拥有成本。

传统的衍射系统通常是由多个组件组成的复杂阵列，这对新手用户来说可能会令人望而生畏。有经验的用户可能也需要花费大量时间来制定测量计划和仪器配置，这分散了重要任务的注意力。

利用智能自动化，XRDynamic 500 和 XRDdrive 控制软件将简单的仪器操作和直观的工作流程的结合，细节更是多少由心，自由选择。

享受简化的工作流程，更大限度地发挥 XRDynamic 500 自动化的优势。指导用户完成测量的软件能够帮助专家和新手按照自己的意愿工作，同时始终能够信赖其的数据质量。

您如何确保始终能获得更佳光束和仪器配置，而不会牺牲数据质量或测量时间？

其独特的 TruBeam™ 理念将 Primux 3000 X-射线源、大测角仪半径和真空光学元件、自动切换的光束几何和光学元件配置，以及自动的仪器和样品校准整合成一个体。

每位用户都能为每个样品实现出色的测量性能，并从更高的分辨率、更多选择和更高的效率中获益。

许多衍射仪能提供 240 - 300 mm 的测量半径，这会限制在不使用昂贵的光学元件的情况下实现的分辨率。否则就必须牺牲其强度。

XRDynamic 500 标配了更大的测角仪半径 360 mm 或 400 mm，具有真空光学元件和更小的探测器像素尺寸。

与传统衍射仪相比，由于采用真空光路，与标准 Bragg-Brentano 测量相比，XRDynamic 500 能够在不影响测量强度的情况下提高 20% 测量分辨率。

为了获得好的信噪比，从而获得出色的数据质量，通常必须以较长的计数时间进行测量。

真空光学元件的优势在于能够阻止寄生空气散射，可选择从光源到探测器的真空光路。

将测量背景减少 50 % 并得益于的信噪比，能够获得更佳质量的数据和更短的测量时间。

对于许多仪器来说，数据质量是以牺牲测量速度为代价的。

得益于 TruBeam™，无论何种测量配置，XRDynamic 500 都能提供出色的数据质量和主光束强度。此外，还包括各种工作流程的自动化，例如更改仪器配置和校准程序。

在不牺牲数据质量的情况下减少测量时间以提高样品通量。智能自动化意味着需要坐在仪器前的时间更少，有更多时间专注于更重要的事情。

始终让 X-射线管阳极保持更佳状态并不容易，因为更换 X-射线管通常很复杂。此外，使用不同的 X-射线光学元件时，由于光源与光学元件的次优校准，必将牺牲主光束强度。

Primux 3000 X-射线源的智能设计允许在需要时快速更换 X-射线管。每种光源和光学元件的组合都可以自动校准。

从光源上解决样品荧光等问题。更换 X-射线管，自动校准，并在15分钟内用新的波长再次测量。利用每个测量几何的精确校准，始终获得更高的主光束强度。

对于某些样品或应用，需要光束整形光学元件（平行或聚焦光束）。此外，可能还需要单色器来抑制 Kβ 峰值并减少测量背景。

各种多层单色器、平行光束和聚焦光学元件均可安装在电动光学元件堆栈中，只需单击一下即可选择。通过优化的出射角度，实现了每个光学元件的精确、自动校准。特殊Ni/C多层光学元件为 Cu 和 Co 源提供了固有的 Kβ 过滤。

利用所有光学元件获得更高的强度，减少测量时间。的信噪比和出色的分辨率能够确保数据的质量。

高质量的 XRD 数据需要能够提供出色分辨率和信噪比的探测器。

Pixos 探测单元基于 Advacam 的光子计数技术，可在 0D 或 1D 模式下进行测量。XRDynamic 500 可选择 Si 或 CdTe 传感器以覆盖所有波长、有效的能量过滤，以及市场上更小的像素尺寸 (55 µm x 55 µm)。

与 XRDynamic 500 更大的测角半径相结合，其探测器的小像素尺寸提高了每个波长的更大测量分辨率。Pixos 探测单元还提供了出色的能量分辨率（具有智能能量过滤）、线性度和效率。

在处理不同的应用需求时，要取决于是否有合适的 样品台 可用。

多功能样品台可实现粉末或固体样品的反射和/或透射测量，并且有换样装置可供选择。

可以使用各种样品台测量不同的样品类型。组件识别允许每个样品台以即插即用模式工作，以便快速精通所有应用。

真正的多功能衍射仪需要应对所有类型的样品需求。

一系列样品架 意味着每种类型样品 — 粉末、固体、薄膜、纤维、凝胶、糊状物或液体，都有一个可用的样品架 。

始终使用适合于手边样品在反射或透射模式下的更优化样品架无论是有机还是无机，甚至对空气或湿气敏感的样品，XRDynamic 500 都能提供解决方案。

设置非环境 XRD 实验可能既复杂又耗时。通常，需要将许多电缆和管子送入仪器外壳内，以连接外部控制单元。

享受非环境样品台的即插即用功能，该功能具有单独内置 CCU 控制单元，可与所有 Anton Paar 的非环境样品台配合使用。得益于仪器外壳中的便捷连接，适用于所有的非环境需求。

XRDynamic 500 使非环境实验与执行任何其他测量一样简单，因此您可以立即重新配置为非环境配置。内置 CCU 减少了杂乱无章，避免了不同非环境附件需要多个控制单元的问题。

衍射仪上的小角 X-射线散射 (SAXS) 测量通常只能提供质量有限的数据。如需真正高质量的 SAXS 测量，则 需要专用仪器 。

XRDynamic 500 与 EVAC 模块 相结合，能够提供真空的光路和专用的 SAXS 光学元件，以实现 0.05 nm⁻¹ 的 q_min。 

在衍射仪上进行真正的 SAXS 测量而获益。只需一台仪器即可提供更高质量的 XRD 和 SAXS 数据。