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PSL-DHTGB 动态DGS可靠性测试

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2026-02-21深圳市
型号
PSL-DHTGB
深圳市华科智源科技有限公司

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IGBT测试仪,IGBT测试仪设备,大功率IGBT测试仪,大功率IGBT测试设备,IGBT测试仪系统
产品简介
华科智源基于多年可靠性测试经验所研发的功率器件动态可靠性测试系统PSL-DHTGB适用于SiC-MOSFET 单管和模块的动态可靠性测试。通过自主设计的驱动电源/驱动电路/测试工装等关键零部件,获得市场上化的开关速度与开关频率,其测试效果已获得厂商认可。
详细信息

产品介绍 


华科智源基于多年可靠性测试经验所研发的功率器件动态可靠性测试系统PSL-DHTGB适用于SiC-MOSFET 单管和模块的动态可靠性测试。通过自主设计的驱动电源/驱动电路/测试工装等关键零部件,获得市场上化的开关速度与开关频率,其测试效果已获得厂商认可。


测试能力


参考标准 

AQG-324,JEP184,JEP183A
适配样品SiC MOSFET功率器件
单管TO-247-3L/4L,TOLL等
模块Tpak,easy1B/2B/3B,HPD等


优势


产品规格



测试项目DHTGB(DGS)动态栅极偏置可靠性测试
Vgs典型测试范围:-10~22V
频率范围

单管 TO247-3L/4L:0~500kHz

模块 Easy1B/2B :0~200kHz

模块 HPD :0~100kHz

(根据器件与安装条件取值调节

占空比10~90%(根据器件与安装条件取值调节)
dV/dt≥1V/ns(根据器件与安装条件取值调节)
过冲0(根据器件与安装条件取值调节
监控参数Igss ,Vth,波形(选配),外壳温度(选配)
加热/冷却方式风冷鳍片,水冷板+水冷机(选配),加热板(选配)     其中 风冷鳍片的降温效果取决于设备所处实验环境,      水冷板的降温效果取决于外接水冷机的冷却水温度,      加热板温度至200℃。
容量

单体测试柜

单管:18颗/层,叠加5层,共 90颗;

半桥模块(以Easy1B为例):9个/层,叠加5层,共45个; 三相模块(以HPD为例):3个/层,叠加5层,共15个

单个主机柜最多可连接3个测试柜。


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