HAST非饱和加速寿命试验箱

HAST非饱和加速寿命试验箱--产品用途

　　用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的磨耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定

HAST非饱和加速寿命试验箱--结构特点
设备特点：
1、优化设计，美观大方，做工精细。
2、对应IEC60068-2-66条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器。
3、采用7寸真彩式触摸屏，拥有200组12500段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口。
4、采用高效压力仓，使箱内达到纯净饱和蒸汽状态。
5、具有缓解压、排气、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确。
6、多项安全保护措施，故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示。
7、HAST高压加速老化试验机可根据客户产品定制专用产品架。
规范要求：
1、HAST高压加速老化试验机内胆采用圆弧设计，符合国家安全容器标准，可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
2、配备双层不锈钢产品架，也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。
3、标准配备8条试验样品信号施加端子，也可以根据需要增加端子数量，最多可提供55条偏压端子。
4、具备特制的试样架免去繁杂的接线作业。
HAST加速寿命试验箱--符合标准
IEC 60068-2-66-1994环境试验第2-66部分:试验方法试验Cx:稳态湿热(不饱合加压蒸汽)
JESD 22-A102-B加速抗潮性.非偏离的高压灭菌器
EIAJED4701
EIA/JESD22

GB/T 2423.40-2013环境试验 第2部分：试验方法 试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热

HAST加速寿命试验箱--规格与技术参数

型号(CM)		ETE-HAST	ETE-HAST	ETE-HAST	ETE-HAST
工作室尺寸(Φ*D)mm		Φ300*450	Φ400*550	Φ500*650	Φ750*900
功率		3.5(KW)	4.6(KW)	5.5(KW)	8.5KW
性能 指标	温度范围	105℃ ~ 132℃
	温度波动	≤±0.5℃
	温度均匀度	≤±2.0℃（恒定时）
	温湿度压力范围	75%RH ~ 99%RH
	压力范围	A:0 ~ 0.2MPa    B:0 ~ 0.3MPa    C:0 ~ 0.4MPa
	湿度均匀度	≤±3.0%RH（恒定时）
	样品区承重	20kg	20kg	20kg	20kg