富士FUJIWORK连续厚度测量仪FT-A200H

富士FUJIWORK连续厚度测量仪FT-A200H

富士FUJIWORK连续厚度测量仪FT-A200H

薄膜测试仪连续厚度测量仪FT-A200H，FT-A200HR，FT-D200H，FT-D200，FT-D210NL，FT-D210NLT，薄膜测试仪图像检查用单元FT-C100

产品介绍

薄膜测试仪连续厚度测量仪FT-A200H/FT-A200HR

高精度测量头和放大器单元的机型。

只需插入从生产线取出的薄膜，即可轻松连续测量厚度。

FT-A200 测量范围／10μm～200μm

FT-A200R 测量范围／3μm～100μm

测量分解能/0.01μm

薄膜测试仪连续厚度测量仪FT-D200H

FT-D200的高分解能规格（测量分解能0.01μm）

通过0.01μm的高分解能可以高精度地测量极薄薄膜

测量范围10μm～500μm

测量分辨率/0.01μm

薄膜测试仪连续厚度测量仪FT-D200

带内置显示装置的一体式紧凑型设备。

传输功能进一步提升，能够实现稳定的连续厚度测量。

测量范围10μm～500μm

测量分辨率/0.1μm

薄膜测试仪图像检查用单元FT-C100

测量部分的观察可以很简单地进行。

作動距離105mμm

光学倍率0.28x～2.0x

测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。

这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。

测厚仪可以用来在线测 量轧制后的板带材厚度，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，以实现对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种，其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，目的是降低板厚的滞后调整时间。