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LIV60201型liv综合测试仪用于光通行业的LD、TO-CAN、TOSA、EML以及碟形器件的TEC温度控制、LIV特性曲线、PV特性曲线和特性参数测试,以及光谱特性测试(需要外接光谱仪)。系统集温控器、电流源、电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体,体积小、测试速度快、精度高,可以极大的提高器件测试的产量和质量。

产品特点
支持脉冲光谱测试
支持多模TOSA在50um和62.5um光纤传输比对
支持FP/DFB/VECSEL/DML/EML器件任意封装类型的测试
支持LD反向漏电流测试
支持LD保护二极管通断测试
支持MPD暗电流测试,MPD 反压可调
支持LIV扫描步进时间2ms~6s任意配置
支持EA的PV曲线测试与ER测试
支持TEC温度控制,热敏电阻NTC
提供三个光源输入口,内置PIN、外置PIN接口和积分球接口
内置PIN响应波长范围800~1700nm
兼容我司LIV-4和LIV-EML的电源连接线,可直接使用
支持本地和远程数据库,支持工业生产MES系统
可靠的ESD/EOS防护
产品应用
FP/DFB TO-CAN、TOSA测试
VECSEL TO-CAN、TOSA测试
EML TO-CAN与 TOSA测试
DML TO-CAN与TOSA测试
多路 TOSA(40G/100G BOX)测试
大功率(蝶形封装)TO-CAN、TOSA测试
LD Chip、Bar测试
脉冲光谱测试
TEC温度控制
多模TOSA在50um和62.5um光纤传输比对
武汉普赛斯一直专注于半导体的电性能测试仪表开发,基于核心算法和系统集成等技术平台优势,帅先自主研发了高精度数字源表、脉冲式源表、大电流脉冲电源、CS/PXIe系列插卡式源表、功率器件测试设备、半导体参数分析仪等产品,广泛应用在半导体器件材料的分析测试领域。欲了解更多liv特性曲线扫描脉冲电源恒流脉冲源信息,欢迎随时咨询普赛斯仪表!