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RLK655M
具体成交价以合同协议为准
2025-11-28西安市
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产品简介
产品介绍RLK655M分体式红外发射率测量仪是一款适用于复杂工况或者特殊环境下的红外发射率测量系统
详细信息
产品介绍
RLK655M分体式红外发射率测量仪是一款适用于复杂工况或者特殊环境下的红外发射率测量系统。
系统基于定向半球反射比（DHR）测试原理，实现单波段（3-35μm）红外发射率的测量，采用分体式结构，模块化设计，可适应各种不同复杂环境（如高温环境、真空等），也可用于大幅面样本的抽样测量。系统具有测量速度快、精度高及灵活性强等优点。
可广泛应用于材料表面红外发射率的测试、材料研究、性能评估等，是现代科研的光电测量仪器。
系统构成
RLK655M分体式红外发射率测量仪，包含红外发射率探头、红外发射率控制器、专用线缆、标定片、产品。
技术指标
产品连接示意图
RLK655M分体式红外发射率测量仪连接示意图：
测量使用示意图
RLK655M分体式红外发射率测量仪测量示意图：
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