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ArtiPolar 圆偏振荧光光谱仪
具体成交价以合同协议为准
2025-10-23广州市
- 型号
- ArtiPolar
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产品简介
圆偏振荧光光谱仪是一种专门用于检测和分析物质圆偏振荧光（CPL）信号的精密光学仪器，核心功能是量化物质发射荧光的偏振状态差异，尤其适用于研究手性分子、不对称结构材料的光学活性与微观结构特性，详情请到“东谱科技“网站。
详细信息
产品简介
圆偏振荧光光谱仪是东谱科技研发的一种专门用于检测和分析物质圆偏振荧光（CPL）信号的精密光学仪器，核心功能是量化物质发射荧光的偏振状态差异，尤其适用于研究手性分子、不对称结构材料的光学活性与微观结构特性。
产品特点
□ 采用双棱镜分光系统，杂散光低，无高阶光影响；
□ 配备Gainsensing技术，优异的信噪比；
□ 激发发射全自动软件控制；
□ 配备专用高灵敏PMT；
□ 可以同时测试CPL和荧光信号；
□ 支持选配圆偏振吸收功能；
□ 支持选配磁学CPL附件。
测试功能
□ CPL；
□ CPA；
□ Magnetic CPL；
□ 变温测试。
技术参数
项目 | 参数 | 项目 | 参数 |
光源 | 150 瓦无臭氧风冷氙灯 150 瓦风冷汞氙灯（可选） | 扫描模式 | 连续扫描 步进扫描 动力学扫描 |
探测器 | 专用光电倍增管（PMT） | ||
单色仪 | 用于激发（Ex）和发射（Em）光学系统的双棱镜单色仪 | 扫描速度 | 10000 纳米 / 分钟 |
测量波长范围 | 250 至 850 纳米 400 至 1100 纳米 | 光度测量模式 | 交流 直流 |
波长分辨率 | ±0.2 纳米（250 至 500 纳米） ±0.5 纳米（500 至 800 纳米） ±1.5 纳米（800 至 1100 纳米 | 圆偏振发光分辨率 | 0.00001 毫度 |
全自动狭缝 | 1 至 4000 微米 | 波长分辨率 | 0.025 纳米 |
积分时间 | 0.1 毫秒至 60 秒 | 杂散光 | 0.001% |
ArtiPolar拓展介绍
1、定义
圆偏振荧光光谱（Circularly Polarized Luminescence, CPL）是一种研究手性荧光物质的光谱技术，通过检测物质在被激发后发射荧光的圆偏振特性（左旋和右旋圆偏振光的强度差异），来获取分子手性结构、构象及环境相互作用的信息。
具体来说，圆偏振荧光光谱反映的是手性发光体系的激发态结构信息。当发光手性分子被光激发后，产生的荧光在左右圆偏振光强度方面会体现出一定的差异性，这种现象被称为圆偏振发光现象（CPL）。与常规圆二色光谱仪（ECD）只能测量材料基态的手性信息不同，圆偏振荧光光谱能够测量材料激发态的手性物质光学活性，弥补了ECD分析的技术局限。
圆偏振荧光光谱的核心原理是：通过测量样品发射的左旋与右旋圆偏振光强度差异（即CPL现象），获取手性发光体系的激发态构型信息，从而分析手性化合物在激发态时的微观结构变化，为研究手性的传递、放大机制提供必要的检测手段。这一技术在3D显示信息存储与处理、CPL激光、生物探针、光催化不对称合成等领域具有广泛的应用前景。
2、圆偏振荧光光谱在器件研究的应用
（1）、圆偏振发光器件（CPOLED）的性能表征
CPOLED 是 CPL 技术直接的器件应用目标，其核心是实现高效、高偏振度的圆偏振光发射。CPL 光谱在此场景下的作用是：
直接量化器件偏振性能：通过测试器件发射光的圆偏振度（|g_lum|），评估其核心指标。|g_lum | 值越接近 ±2，器件的偏振发光性能越好，这是判断 CPOLED 能否满足实际应用（如 3D 显示）的关键参数。
监测器件稳定性：在器件老化或长时间工作后，再次测试 CPL 光谱。若 |g_lum | 值下降，说明器件的手性发光层结构或手性有序性被破坏，可用于分析器件失效机制。
（2）、器件用手性材料的筛选与优化
器件性能的上限由材料决定，CPL 是筛选和评估手性发光材料的核心工具：
快速评估材料固有活性：在制备器件前，通过测试候选手性荧光材料（如手性有机小分子、金属配合物、量子点）的 CPL 信号，筛选出 |g_lum | 值高、发光效率高的材料，避免后续器件制备的资源浪费。
优化材料掺杂体系：对于 “主体 - 客体” 掺杂型发光层，CPL 可用于研究手性主体对非手性客体的手性传递效率。通过对比不同掺杂比例下的 |g_lum | 变化，找到手性诱导的配比，提升器件整体偏振性能。
（3）、器件结构的设计与界面作用分析
CPL 可用于揭示器件各层结构对偏振性能的影响，指导器件结构优化：
分析手性层的作用机制：研究器件中手性掺杂层、手性界面层或手性电极的引入对发光层 CPL 信号的调制效果。例如，通过对比有无手性界面层的器件 CPL 光谱，判断界面是否促进了发光分子的手性有序排列。
优化薄膜制备工艺：不同的薄膜成膜工艺（如蒸镀、旋涂、印刷）会影响分子的堆积方式和手性有序性。通过测试不同工艺制备的器件发光层 CPL 信号，可筛选出能形成高手性有序薄膜的制备方法。
（4）、 器件发光机理的探究
CPL 光谱是解析器件内部激发态物理过程的 “探针”：
研究激子的手性特性：器件发光源于激子的辐射复合，CPL 信号的强弱与激子的手性态分布直接相关。通过分析 CPL 光谱的峰形和 |g_lum | 值，可推断器件中手性激子的形成效率、寿命及湮灭过程。
揭示能量转移的手性传递：在多组分器件中，CPL 可用于监测能量从手性给体材料转移到受体材料时的手性传递效率，帮助理解能量转移过程与偏振性能之间的关联，为设计高效能量转移型 CPOLED 提供理论依据。
3、产品主要测试功能特点
（1）、圆偏振荧光（CPL）信号测量
这是仪器最根本的功能，直接针对 CPL 效应的两个关键输出。
CPL 光谱扫描：在固定激发波长（λ_ex）下，扫描整个发射波长范围（λ_em），记录不同发射波长对应的圆偏振度（|g_lum|） 数值，最终得到以 λ_em 为横坐标、|g_lum | 为纵坐标的 CPL 光谱图，直观反映样品在不同波长下的手性发光活性。
圆偏振度（|g_lum|）定量测定：通过采集发射光中左旋（I_L）和右旋（R_L）圆偏振光的强度，依据公式 |g_lum| = 2×|I_L - I_R|/(I_L + I_R) 直接计算出样品的圆偏振度，该数值是评价手性发光材料性能的核心指标。
（2）、联用光谱测量
为了更全面地表征样品，现代 CPL 光谱仪通常集成或联用其他相关光谱功能，形成 “一站式” 表征平台。
稳态荧光光谱（PL）测量：同步测试样品的常规荧光发射光谱，获取荧光强度、发射峰位置、半峰宽等基础发光信息。结合 CPL 光谱，可分析手性与发光效率之间的关联。
圆二色性（CD）光谱测量：部分仪器可联用 CD 模块，测量样品在基态对圆偏振光的吸收不对称性。通过对比 CD（基态手性）和 CPL（激发态手性）信号，能深入研究分子基态与激发态的手性结构差异。
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