变温变磁霍尔效应测试仪HET-3TM

霍尔效应测试系统HET-3TM支持标准法和范德堡法两种测量方法。其中标准法通过测量特定方向电压差计算参数；范德堡法测量材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等电运输性能参数，该方法可对薄膜或薄层材料进行测量；

应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N型＆P型均可测量）；

广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。

产品特点

● 自动采集样品温度变化时的电阻电压、霍尔电压；

● 对半导体样品的正反向电流及正反向磁场变化实施自动控制；

● 能够以数字形式呈现样品的电流及电压数值；

● 自动控制磁场方向的改变，更加便捷准确；

● 可解算样品随温度变动的霍尔系数曲线，并进一步完成曲线的绘制呈现；

● 兼具手动测量功能，可手动操作获取数据；同时支持自动测量，实现数据自动采集；

● 样品装夹快速方便，且使用能够解决欧姆接触的样品芯片；

● 可生成各类数据变化曲线，能演算并绘制样品温变霍尔系数曲线及电导率温变曲线，且支持数据曲线的存储与调用；

● 能实现电流自动换向、磁场测量自动换向，以及电导与霍尔效应的自动换向；

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产品应用功能：

● 载流子类型鉴定：通过测量霍尔系数，可以确定电流携带者的类型，是正电荷的空穴还是负电荷的电子，从而获得半导体或导体的电子结构和能带特性；

● 载流子浓度测量：霍尔系数与载流子浓度之间存在关系，因此通过测量霍尔系数，可以估计材料中载流子的浓度；

● 迁移率评估：霍尔系数还可以用来计算载流子的迁移率，即电荷载流子在材料中移动的能力，从而对材料的电导率和电子迁移性等方面的深入研究；

● 材料电性能评估：通过了解材料的电子结构、载流子类型、浓度和迁移率等信息，可以更全面地评估材料的电性能，为电子器件和电路设计提供重要参考；

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产品参数：

产品应用案例（部分）：