$item.Name
$item.Name
$item.Name
$item.Name

首页>电工仪表>电力测试仪>静电测试仪

参考价:

P331-2-Langer静电放电耦合套组-IC测试系统

具体成交价以合同协议为准

2025-10-14上海
型号
规格
请选择规格
参数
品牌:其他品牌 产地:进口 加工定制:否
上海欧桥电子科技发展有限公司

初级会员2经销商

该企业相似产品
微波射频器件,EMC器件,SIM卡,滤波器,功分器,衰减器,电流探头,电流注入探头,校准夹具
产品简介
P331-2-Langer静电放电耦合套组-IC测试系统中包含的场源产生快速电场的和磁场的静电放电脉冲场(200ps)。这些场可以确定地、可复现地加载在集成电路上,从而确定集成电路对静电放电场的抗干扰性。
详细信息
产品特性:静电耦合是否进口:是原产国/地区:德国
加工定制:否品牌:Langer EMV-Technik型号:P331-2
产品用途:集成电路对静电放电场的抗干扰性


P331-2-Langer静电放电耦合套组-IC测试系统P331-2 set

品牌:Langer EMV-Technik

型号:P331-2 set


Langer静电放电耦合套组(IC测试系统)P331-2 set介绍:

Langer静电放电耦合探头组中包含的场源产生快速电场的和磁场的静电放电脉冲场(200 ps)。这些场可以确定地、可复现地加载在集成电路上,从而确定集成电路对静电放电场的抗干扰性。

其背景是扁平元件组和电子设备的静电放电场抗干扰性。这些设备要经受静电放电测试(IEC 61000-4-2)。测试时与扁平元件组耦合的静电放电干扰会产生除标准静电放电脉冲场之外的快速电场和磁场(200 ps)。产生的场作用于扁平元件组的表面,并且能穿过集成电路的外壳。若这些场穿过集成电路,则在集成电路中产生干扰过程。

因此除了在集成电路引脚上的与电路耦合的静电放电干扰之外,磁场和电场对集成电路的影响也是一个很主要的干扰途径。




P331-2-Langer静电放电耦合套组-IC测试系统P331-2 set配置:

1x P331-2, ESD 发生器

1x BPS 203, 猝发电站

1x BPS 203-Client, 控制软件

1x SMA-SMB 1 m, SMA-SMB 测量电缆

1x HV FI-FI 1 m, 高压电缆

1x FBK 12P 1m

1x USB-AB

1x NT Ex EU

1x P331 acc

1x P331 case, System case

1x P331 m


简短的介绍:

P331-2 ESD发生器:P331-2型ESD发生器适合于按照IEC 61000-4-2/HMM标准,直接在集成电路引脚或通过耦合器在USB、LVDS、以太网等高速端口处进行有线ESD 耦合。


BPS 203猝发电站充当高压电源和ESD检验的控制单元。它通过USB接口与用户的PC相连接,并借助BPS203-Client软件实现控制。


BPS 203-Client:BPS203-Client用于控制BPS 203猝发电站以及与其相连的受测物。该软件要安装在用户的PC上。



相关技术文章

同类产品推荐

产品参数

品牌 其他品牌
产地 进口
加工定制

规格类型

P331-2 set 8元 10套可售
提示

请选择您要拨打的电话:

温馨提示

该企业已关闭在线交流功能

请拨打电话联系