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PXIe-514X系列是4通道独立的PXIe插卡式高性能精密源表,能够同时输出和测量电压电流,蕞大支持±30V±1000mA直流/脉冲输出,最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集,支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发,提高了系统测试效率并降低成本。LD激光器特性测试PXle插卡式高精密源表认准普赛斯仪表咨询

产品特点
四个独立的源测量通道,支持并行测试
蕞大支持单通道3W功率输出或吸收
支持标准SCPI指令集,提供*的驱动及示例代码
支持脉冲输出,脉宽低至100μs,占空比0~100%可调
支持连续、sweep、序列等多种工作模式
蕞大电流电压分辨率低至10pA/100μV
支持DIO外部同步触发接口,支持2/4线测量
4/8个独立的源测量通道,支持并行测试
蕞大支持±30V±1A(脉冲)输出
应用范围
半导体晶圆、芯片特性测试
LD激光器特性测试
太阳能电池充放电、寿命测试
传感器及材料测试
武汉普赛斯一直专注于半导体的电性能测试仪表开发,基于核心算法和系统集成等技术平台优势,帅先自主研发了高精度数字源表、脉冲式源表、大电流脉冲电源、集成插卡式源表、功率器件测试设备等产品,广泛应用在半导体器件材料的分析测试领域。欲了解更多LD激光器特性测试PXle插卡式高精密源表信息,欢迎随时咨询普赛斯仪表!