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XRF荧光光谱仪薄膜标准样品

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2025-08-14北京市
型号
北京沃达谷科贸有限公司

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分析仪器耗材、实验室器材、实验室仪器、实验设备、分析色谱柱
产品简介
简要描述:XRF荧光光谱仪薄膜标准样品奥富森提供的XRF薄膜标准样品综合了多种高真空镀膜技术进行制备;具有膜层厚度控制精确,厚度均匀,性能稳定等优点,元素纯度可达99.9%以上;同时综合ICP和XRF等检测技术,可精确标定薄膜标样的负载量。
详细信息

XRF荧光光谱仪薄膜标准样品

奥富森提供的XRF薄膜标准样品综合了多种高真空镀膜技术进行制备;具有膜层厚度控制精确,厚度均匀,性能稳定等优点,元素纯度可达99.9%以上;同时综合ICP和XRF等检测技术,可精确标定薄膜标样的负载量。

《HJ 830-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定波长色散-X射线荧光光谱法》以及《HJ 829-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定能量色散-X射线荧光光谱法》均要求使用薄膜标样建立仪器的工作曲线。

XRF薄膜标准样品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五个负载量系列,其他负载量的产品可根据客户实际需求定制。

可供应的XRF薄膜标准样品的元素如下(可在表格内打√选择样品):


元素

SL

VL

L

R

H

元素

SL

VL

L

R

H



Na (NaCl)

Co



Mg (MgF2)

Ni



Al

Cu



Si (SiO2)

Zn (ZnTe)



P (GaP)

As (GaAs)



S (CuSx)

Se



Cl (NaCl)

Sr (SrF2)



K (KCl)

Br (CsBr)



Ca (CaF2)

Cd (CdSe)



Sc (ScF3)

Ba (BaF2)



Ti

Pb



V

Sn



Cr

Sb



Mn

In



Fe

Mo



Ag

Hg (HgTe)


可提供超纯铝杯用于XRF测定大气颗粒物的辅助设备,用以消除或减小合金材料样品杯对样品结果的影响;采用标准样品研究所提供的湖南重金属污染标准土壤样品,参考NIST 2783标样制备方式研制成功混合元素薄膜样品,可用于XRF分析方法的验证以及XRF实验室日常质控工作。

XRF薄膜标准样品的安装形式:

1、 安装环尺寸(厚度为1.5mm的亚克力玻璃)

圆形:


代码

外径(mm)

内径(mm)



25

25

17



32

32

25



36

36

29



47

47

39


推荐36号尺寸。

方形:

50x50mm方形尺寸,内置ø32mm的圆环,代码50。

2、 支撑膜材料


代码

支撑膜材料

备注



N

Nuclepore® polycarbonate

气溶胶多孔膜



M6.3

6.3μm厚度麦拉膜(Mylar)



M3.5

3.5μm厚度麦拉膜(Mylar)


推荐M6.3型材料。

3、 镀膜方式:


代码

镀膜位置排列



A

安装环-元素膜-支撑膜



B

元素膜-支撑膜-安装环

XRF荧光光谱仪薄膜标准样品





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