RX-1000 光学膜测厚仪KURABO仓敷纺织膜厚计

光学膜测厚仪KURABO仓敷纺织膜厚计

测量用途

通过偏光膜的水分测量的产品卷曲的管理

保护膜厚度管理和水分

防反射涂层或硬涂层厚度

粘合剂涂层厚度

粘合剂的连续脱泡·供给机

※牛蒡连续脱泡机

偏光膜的碘、硼酸的浓度测量

光学膜测厚仪KURABO仓敷纺织膜厚计

测量规格

测光方式 红外吸收方式

分光方式 旋转过滤方式（可安装6张）

测量距离 22.5mm（两传感器头间距离：45mm）

测量面积 7×13mm（椭圆

主机规格

传感器头部 外形尺寸：投光、受光传感器均为225（W）×145（D）×80（H）（不含突起部）

重量：投光、受光单元均为3kg

中继单元部 外形尺寸：260（W）×140（D）×113（H）（不含突起部）

重量：3kg

电源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA

外部输出 RS422A的上位PC的数字输出（9600BPS）

使用温度 5～40℃（无结露）

光学膜测厚仪是一种精密测量仪器，主要用于测量薄膜的厚度。以下是光学膜测厚仪的主要作用：

光学涂层制备：在光学元件制造中，光学膜测厚仪可用于评估薄膜的厚度和均匀性，确保涂层符合设计要求4。

薄膜研究与开发：研究人员可以使用光学膜测厚仪来了解不同材料和工艺条件下薄膜的生长过程、光学特性和结构变化，为新材料和新工艺的开发提供依据4。

薄膜品质控制：在薄膜生产过程中，光学膜测厚仪可用于实时监测薄膜的厚度，检测偏差和缺陷，确保产品质量和一致性4。

高精度测量：光学膜测厚仪具备很高的测量精度，通常可达到亚纳米级别。这种高精度保证了对细微薄膜厚度变化的敏感性和可靠性4。

宽波长范围：光学膜测厚仪可以涵盖从紫外到红外的宽波长范围，适用于不同材料的薄膜测量需求4。

快速测量速度：光学膜测厚仪具备快速的数据采集和处理能力，能够在短时间内完成多个点位的测量，提高实验效率