微焦点X射线透视检查装置 SMX-1000 Plus/1000L Plus

原来的SMX-1000/SMX-1000L是业界检查机器的参照系，现在我们在此基础上开发出了更加简洁的X射线检查装置SMX-1000 Plus/SMX-1000L Plus。新机型将过去备受好评的操作性能进行了进一步提升，并使操作界面更加简洁易懂，增大的透视图像和外观图像提高了图像的易读性。

新系统大幅度地简化了测量功能，通过无须复杂参数设定的一键式操作即可得到测量结果；除在外观图像上可实施导航、步进、教学（Teaching）、图像一览显示等丰富的功能外，又增加了突出关心区域显示等的新功能。

用途

SMX-1000 Plus/SMX-1000L Plus可通过非破坏的方式，在高放大倍数下透视检查高密度实装基板或BGA·CSP·系统LSI的超细微部的连接状态(断线·接触)。

特点

● 进一步提高操作性 

界面布局全面改良，更加简洁、易懂，图像加大，可比老机型更加直接地完成作业。

● 清晰的图像 

秉承老机型的优势，用平板接收器结合我司的图像处理技术得到没有变形的清晰图像。 

● 倾斜透视 

从倾斜方向进行透视，能够发现垂直透视不能发现的不良点。

● 简单的测量 

我们运用自发研制的图像处理技术，将原来设定繁琐的测量参数进行自动化处理，一键操作即可获得测量结果。

● VCT组件（选配）

通过此组件（装卸式）能够容易获得清晰的CONE CT图像。 

● 旋转倾斜组件（选配）

● 操作盒（选配）

此选件用操作杆和按键组合，手动控制载物台移动、图像放大、缩小以及对旋转倾斜组件上样品的旋转倾斜。