HD-JD1 介质损耗测试仪

介质损耗测试仪是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。

技术特点
高精度测量：采用高精度测量电路和算法，确保tanδ和Cx的测量精度。
宽测量范围：适用于不同电压等级和电容量的被试品。
便携式设计：体积小、重量轻，便于现场测试。
操作简便：大屏幕液晶显示，中文菜单操作，界面友好。
自动化程度高：一键式操作，自动完成测量、计算和结果显示。

参考标准
GB/T 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法；
GB/T 1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；
ASTM-D150-介电常数测试方法；
GB9622.9-88/SJT 11043-1996电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法。

介质损耗测试仪的功能
介质损耗因数（tanδ）测量：精确测量绝缘材料的介质损耗因数，评估绝缘性能。
电容量（Cx）测量：测量绝缘材料的电容量，判断其电容特性。
抗干扰能力强：采用变频技术或数字信号处理技术，有效抑制工频干扰和其他电磁干扰，确保测量结果的准确性。
多种测试模式：支持正接法、反接法、自激法等多种测试模式，适用于不同类型的被试品。
数据存储与分析：内置存储功能，可保存测试数据，支持数据导出和分析。
安全保护功能：具备过压、过流、短路等保护功能，确保操作安全。