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高频介电常数仪
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2025-06-25北京市
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产品简介
简要描述：LDJD-C高频介电常数仪原理：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质；通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。
详细信息
LDJD-C高频介电常数仪介绍：
介电常数测试仪采用高频谐振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。
它以单片机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路；
使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。
仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量；
电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
高频介电常数仪参数：
LDJD-A型介电常数及介质损耗测试仪 信号源频率覆盖范围10kHz～70MHz；主电容调节范围：30～550pF；
LDJD-B型介电常数及介质损耗测试仪信号源频率覆盖范围10kHz～110MHz，主电容调节范围：30～540pF；
LDJD-C型介电常数及介质损耗测试仪信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz，主电容调节范围： 17～240pF（一体镀银成型，精度高）；带步进马达，电容自动搜索
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