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参考价:
具体成交价以合同协议为准

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产品应用
• 批量生产环节中APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件进行老化筛选
• 长时间可靠性失效测试分析
产品特点
• 提供每路独立的驱动电流
• 两个独立老化箱体,可以独立控制,升温速度效率高,无过冲

• APD电路具有限压保护功能,防止恒流开路高电压输出损坏器件
• 可靠的EOS防护,上电时序先TIA上电,再APD上电,下电时序先APD下电,再TIA下电,
• 先后延时可配置,保证器件上下电安全

• 64路老化板作为通用载体,可以实现盘测、老化、分拣不同工位直接的转料,提高生产效率

| 参 数 | 指 标 |
| 测试路数 | 单板64路,左右2个仓,每层24个,共3072路 |
| 独立温区数 | 2个 |
| APD恒流驱动 | 0~2mA |
| APD电压测量 | 0~70V |
| TIA恒压驱动 | 0~5V |
| TIA电流测量 | 0~60mA |
| VPD输出电压 | 0~20V |
| PD电流检测 | 0~200uA |
| 温度范围 | RT+20℃~150℃,可定制支持175℃。 |
| 温度精度 | ±2℃ |
| 温度均匀性 | 满载时≤3℃,空载时≤2℃ |
| 升温过冲 | ≤3℃ |
| 长期温度稳定性 | 0.5℃ |
| 升温速度 | 100℃/半小时 |
| 设备尺寸(宽x高x深) | 1400 x 1800 x 1200(mm) |
| 电源规格 | 三相五线AC 380V/50HZ |