描述

薄膜测试系统提供完整的一套膜厚测试系统，可以对单层或多层的5nm-200um的快速测试。这套系统包含便携式光纤光谱仪，反射式探针和光源。通过样品正面反射的正弦条纹图得到反射和膜厚的光学特性，多种可选择模式满足不同的膜厚和光学需求。

ThinFilmCompanion系统特性

实时光谱捕捉和仪器控制（反射和透射测试）

内置大量材料数据

支持多层，单层，粗，厚膜和薄膜结构测试

新材料数据可以轻松添加

实际测试和文件导入

支持复合物材料测试

TF软件

采用用户友好界面软件可以快速测试膜厚和光学常数（n和k值），是复杂的测试变得简单化。这个软件内部包含大量 的材料数据资料，使得的测试范围更广，多层膜，单层膜，粗糙的，薄膜，厚膜等都可以测试，并且新材料的数据也可以随时导入到软件中。

    主要测试过程包含两部分：数据采集和数据分析。TF系统定义了所有测试过程，并且向用户开放，同时用户也可以此 基础来存储数据和后续开发。