描述

SR-750是一款基于典型的Czerny-Turner光路结构的高分辨率光谱仪。结合创新型的光学器件设计，SR-750配合Andor 公司的各型高性能光谱专用CCD/ICCD，可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。SR-750可以配用多种附件，拓展应用领域，在透射/反射/吸收光谱、Raman光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中，提供良好的系统解决方案。

特点

分辨率可高达0.02nm

出厂预校准，开箱即可使用

多路光谱优化光路，低串扰，高密度多路光谱探测

USB2.0 接口，即插即用

针对每台谱仪记录三光栅塔轮信息，便于以后光栅升级

双探测器出口选项，可安装不同类型探测器满足不同实验需求

多样化的附件选择

支持单点探测器，波长可高达12um

光学元件镀银选项，保证红外探测器更好的性能

技术参数

焦距长度                 750mm

通光孔径                 f/9.7

焦平面尺寸               28mmX14mm

光谱分辨率               0.02nm @ 2400 l/mm @ 300 nm

波长重复性               10pm

光栅尺寸                 68mmX68mm

外形尺寸                 860X393X213.5

重量                     35Kg